[发明专利]一种正向失配四结太阳能电池在审
申请号: | 201610856612.X | 申请日: | 2016-09-27 |
公开(公告)号: | CN107871799A | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 张启明;张恒;刘如彬;唐悦;石璘;孙强 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十八研究所 |
主分类号: | H01L31/0725 | 分类号: | H01L31/0725;H01L31/0735 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人: | 刘昕 |
地址: | 300384 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 正向 失配 太阳能电池 | ||
1.一种正向失配四结太阳能电池,其特征在于,所述正向失配四结太阳能电池包括Ge衬底和帽层,其中,从所述Ge衬底到所述帽层依次设有Ga0.5In0.5P成核层、Ga0.99In0.01As缓冲层、第一隧道结、(AlGa)1-xInxAs渐变缓冲层、第一(AlGa)1-xInxAs/(AlGa)1-yInyAs DBR、Ga1-xInxAs电池、第二隧道结、第二(AlGa)1-xInxAs/(AlGa)1-yInyAs DBR、(AlGa)1-xInxAs电池、第三隧道结以及(AlGa)1-yInyP电池;
所述第一隧道结包括n型掺杂的n+-GaAs层和p型掺杂的p+-AlGaAs层,所述n型掺杂的n+-GaAs层的浓度和所述p型掺杂的p+-AlGaAs层的浓度均为1×1019-1×1021cm-3;
所述(AlGa)1-xInxAs渐变缓冲层包括p型掺杂层,所述p型掺杂层的浓度为1×1017-1×1019cm-3,厚度为500nm-4000nm,0.01≤x≤0.4;
所述第一(AlGa)1-xInxAs/(AlGa)1-yInyAs DBR包括p型掺杂层,所述p型掺杂层的浓度为1×1017-1×1019cm-3,在每个周期内,(AlGa)1-xInxAs和(AlGa)1-yInyAs的厚度均为30nm-300nm,0.01≤x≤0.4,0.01≤y≤0.4;
所述Ga1-xInxAs电池包括n型掺杂的n-Ga1-xInxAs发射区层和p型掺杂的p-Ga1-xInxAs基区层,所述n型掺杂的n-Ga1-xInxAs发射区层的浓度为1×1017-1×1019cm-3,p型掺杂的p-Ga1-xInxAs基区层的浓度为1×1016-1×1018cm-3,所述n型掺杂的n-Ga1-xInxAs发射区层的厚度均为50nm-300nm,所述p型掺杂的p-Ga1-xInxAs基区层的厚度为500nm-3000nm,0.01≤x≤0.4;
所述第二隧道结包括n型掺杂的n+-Ga1-yInyP层和p型掺杂的p+-(AlGa)1-xInxAs层,所述n型掺杂的n+-Ga1-yInyP层的浓度为1×1019-1×1021cm-3,厚度为10nm-100nm,所述p型掺杂的p+-(AlGa)1-xInxAs层的浓度为1×1019-1×1021cm-3,厚度为10nm-100nm,其中,0.01≤x≤0.4,0.4≤y≤0.9;
所述第二(AlGa)1-xInxAs/(AlGa)1-yInyAs DBR包括p型掺杂层,所述p型掺杂层的浓度为1×1017-1×1019cm-3,每个周期内,(AlGa)1-xInxAs的厚度为30nm-300nm,(AlGa)1-yInyAs的厚度范围为30nm-300nm,其中,0.01≤x≤0.4,0.01≤y≤0.4;
所述(AlGa)1-xInxAs电池包括n型掺杂的n-(AlGa)1-xInxAs发射区层和p型掺杂的p-(AlGa)1-xInxAs基区层,所述n型掺杂的n-(AlGa)1-xInxAs发射区层的浓度为1×1017-1×1019cm-3,厚度为50nm-300nm;所述p型掺杂的p-(AlGa)1-xInxAs基区层的浓度为1×1016-1×1018cm-3,厚度为500nm-3000nm,0.01≤x≤0.4;
所述第三隧道结包括n型掺杂的n+-(AlGa)1-yInyP层和p型掺杂的p+-(AlGa)1-xInxAs层,所述n型掺杂的n+-(AlGa)1-yInyP层的浓度为1×1019-1×1021cm-3,厚度为10nm-100nm,所述p型掺杂的p+-(AlGa)1-xInxAs层的浓度为1×1019-1×1021cm-3,厚度为10nm-100nm,其中,0.01≤x≤0.4,0.4≤y≤0.9;
所述(AlGa)1-yInyP电池包括n型掺杂的n-(AlGa)1-yInyP发射区层和p型掺杂的p-(AlGa)1-yInyP基区层,所述n型掺杂的n-(AlGa)1-yInyP发射区层的浓度为1×1017-1×1019cm-3,厚度范围为10nm-100nm,所述p型掺杂的p-(AlGa)1-yInyP基区层的浓度为1×1016-1×1018cm-3,厚度为100nm-1000nm,其中,0.01≤x≤0.4,0.4≤y≤0.9。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十八研究所,未经中国电子科技集团公司第十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610856612.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的