[发明专利]自动测试通道配置装置及其控制方法

权利要求书

1.一种自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，该自动测试通道配置装置包括：

多个测试通道；

一记忆模块，包括对应于该些测试通道的多个记忆区块，每一该记忆区块关连于该些测试通道其中之一，每一该记忆区块包括多个导通状态值，每一该导通状态值关连于多个测试环境其中之一；以及

一第一逻辑运算模块，电性连接该记忆模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境选择数据，产生该些测试通道中的一第一测试通道的一第一控制信号，该测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一该选择状态值关连于该些测试环境其中之一；

一第二逻辑运算模块，电性连接该第一逻辑运算模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境维持数据，产生该第一测试通道的一第二控制信号，该测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一该状态维持值关连于该些测试环境其中之一；

其特征在于，该第二逻辑运算模块依据该第一控制信号及该第二控制信号，产生一第一测试通道控制信号，以选择性地导通该第一测试通道。

2.如权利要求1所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块还输出该第一控制信号及该第二控制信号至该自动测试设备，使该自动测试设备依据该第一控制信号及该第二控制信号选择性地维持自该第一测试通道输出的信号。

3.如权利要求1所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块包括：

多个第一逻辑单元，电性连接至该第一逻辑运算模块，每一该第一逻辑单元用以依据该些导通状态值其中之一与该些状态维持值其中之一决定一测试环境维持信号；以及

一第二逻辑单元，电性连接至该些第一逻辑单元，用以依据每一该第一逻辑单元决定的该测试环境维持信号以产生该第一测试通道的该第二控制信号。

4.如权利要求3所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第一逻辑运算模块包括：

一控制单元，电性连接至该记忆模块，用以从该些记忆区块中读取一第一记忆区块中的该些导通状态值；

多个第三逻辑单元，电性连接至该记忆模块，每一该第三逻辑单元用以依据被读取的该些导通状态值其中之一与该些选择状态值其中之一决定一测试环境致能信号；以及

一第四逻辑单元，电性连接至该些第三逻辑单元，用以依据每一该第三逻辑单元决定的该测试环境致能信号以产生该些测试通道中该第一测试通道的该第一控制信号。

5.如权利要求4所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块还包括：

多个第五逻辑单元，该些第五逻辑单元其中之一依据该第一测试通道的该第一控制信号及该第二控制信号，产生该第一测试通道控制信号，以选择性地导通该第一测试通道。

6.一种自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，包括：

设定一关系表，该关系表用以记录多个测试通道中每一该测试通道对应多个测试环境的操作关联性；

自该些测试环境中，选择部分的该些测试环境来进行测试；

依据该关系表中，判断被选择进行测试的该些测试环境中每一该测试环境的一通道状态；

依据被选择进行测试的每一该测试环境的该通道状态，计算该些测试通道中一第一测试通道的一第一控制信号；

自该些测试环境中，选择部分的该些测试环境来进行状态维持；

依据该关系表中，判断被选择进行状态维持的该些测试环境中每一该测试环境的该通道状态；

依据被选择状态维持的每一该测试环境的该通道状态，计算该第一测试通道的一第二控制信号；以及

依据该第一控制信号及该第二控制信号，判断该第一测试通道是否要导通。

7.如权利要求6所述的自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，还包括依据该第一控制信号及该第二控制信号，选择性地维持该第一测试通道输出的信号。