[发明专利]荧光免疫层析测试数据处理方法有效
申请号: | 201610858688.6 | 申请日: | 2016-09-27 |
公开(公告)号: | CN107389625B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 王佩瑞;李欢;倪晓涛;陆亮;肖琨;周亦迪;曹秋岑 | 申请(专利权)人: | 上海艾瑞德生物科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N33/58;G01N33/558 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 徐嘉慧;陈详 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 免疫 层析 测试 数据处理 方法 | ||
本发明提供了一种荧光免疫层析测试数据的处理方法,包括提供一免疫层析试纸条、一激发光源和一受激光读取装置,通过所述控制装置,控制光斑从而使得所述光斑沿所述层析试纸条的长度方向进行移动,将对应于有效光斑的各信号强度进行数据处理,从而获得免疫层析试纸的检测结果。本发明方法排除了质控线上引入的批次间样品损失量、批次间加样量差异、抗体标记过程中的部分干扰因素等,使得最终的数据结果具有合理的物理意义和更高的灵敏度。
技术领域
本发明属于检测领域,具体地说,本发明涉及一种荧光免疫层析测试数据优化处理方法。
背景技术
在色谱分析、原子吸收、核磁等领域,参照检测仪器的线性范围和灵敏度,选用峰高和峰面积都可以用作精准的定量方法。
现有荧光免疫层析测试数据处理技术中,样本数据的处理方式多采用TY、TA、TAP进行比较计算,其中TY表示光斑与测试线相交的阴影部分面积反馈的最大信号值,即图2(d)中完整信号峰的峰高值,其包含了传统意义上部分峰面积的物理含义,单纯选用TY作为样品间性能比较的参数,难以区分样品间的差异。TA、CA分别表示现有谱图中测试线和质控线上的信号峰的积分面积,其物理意义是将图2中光斑与测试线、质控线相交的阴影部分面积反馈的信号进行积分加和,因此在TA和CA的计算中部分测试线和质控线上的局部荧光信号区会在光斑移动前后被重复计算多次(约20次),因此将TA、TAP应用于比较样品间的性能差异,物理意义很不明确。
另外,在进行样品荧光层析测试时,由于荧光微球的添加量较少(约为0.3-0.4μL),在加样时容易因为微球附着于枪头而产生批次间添加量的误差,或是在制备过程中样品批次间损失率不一致,使得最终添加的微球总量存在差异。虽然微球在测试时是过量的,当批次间添加量不同时,微球与测试线上的结合量基本一致,即测试线上的信号峰受该因素干扰相对较小,但与质控线上的结合量却存在较大的差异,即质控线上的信号峰受该因素的干扰相对较大。此时若将质控线上的信号峰数据引入结果中进行计算处理,就会使得批次间样品的差异变大,降低了数据的准确性和可比性。
在侧向流层析测试过程中,当荧光微球分散均一性不佳时,微球容易在层流过程中堆积在测试线或质控线的某一侧(图3b),使得荧光测试仪输出的信号峰不是理想的高斯分布,对称性不佳(图3c,样本B),因此单纯用样本A和样本B测试线或质控线上的某处信号值、输出信号峰的峰高值(TY、CY)或峰面积值(TA、CA)进行比较均不合适。同时,将抗体标记于微球上时,会由于抗体添加量少或是微球曲率较小而使得抗体的二级结构发生变化,抗体上的结晶片段(Fragment Crystalline,Fc)容易暴露,表现出对质控线的结合能力变强,CY(质控线上信号峰的峰高值)、CA变大;而当抗体添加量较多时,抗体在微球表面发生饱和偶联,抗体Fc端与质控线上抗体结合时的空间位阻变大,表现出对质控线的结合能力变弱,CY、CA变小。这些影响CY、CA数据的因素都会干扰TAP的结果。
荧光免疫层析测试仪产生荧光信号峰与其他色谱峰中峰高和峰面积的含义有所不同,其对应的峰高值(TY)隐含了少部分峰面积的物理含义,直接采用峰高和峰面积进行数据处理来表示样品的最高信号强度和总信号强度并不合适;另外现有仪器选用质控线进行定量计算,引入了质控线上的干扰因素,容易产生较大的批次间误差。
综上所述,本领域迫切需要研发出一种物理意义明确,并且能够直观反映样品最高信号强度和总信号强度的数据处理方式,同时排除质控线上伴随着的批次间样品损失量、批次间加样量差异、抗体标记过程中的部分干扰因素等。
发明内容
本发明的目的在于提供一种荧光免疫层析测试数据处理方法及其应用。
本发明的第一方面,提供一种荧光免疫层析测试数据的处理方法,包括步骤:
(1)提供一免疫层析试纸条、一激发光源和一受激光读取装置,其中,
所述激发光源用于产生激发光,所述激发光被照射在所述层析试纸条上,从而形成光斑;
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