[发明专利]一种硬盘背板的测试治具

说明书

技术领域

本发明涉及一种服务器功能测试技术领域，特别是涉及一种应用于服务器的硬盘背板的测试治具。

背景技术

随着社会及经济的高速发展，个人及企业对计算机的使用越来越多。近年来，伴随着云存储、大数据等新型技术的发展，企业对计算机的数据存储功能提出来越来越高的要求。与之相对应，计算机生产厂家根据用户的实际需求，增加了计算机中存储数据的硬盘的数量。由于硬盘与主板相连接的中间桥梁是硬盘背板，故相应的多接口硬盘背板也应运而生。改正多接口的硬盘背板能同时访问多块硬盘，实现计算机中多块硬盘数据的同时访问，满足了企业的需求。在硬盘背板出厂前，要对硬盘背板进行检验，以确保生产出的硬盘背板符合出厂标准。

目前，计算机生产厂家均利用服务器主板，插上相应数量的CPU、内存、硬盘，再配上专用电源、显示器、键盘等配套器件，运行相应的测试程式，从而实现对多接口硬盘背板的测试。但是，采用这种硬盘背板测试方法，存在以下缺点：

1)测试用的治具成本过高：由于现有的测试方法中，需要配合一系列的器件，如：服务器主板、CPU、内存、硬盘和电源等等；通常情况下，如果测试一个可插24个SAS(Serial Attached SCSI，串行链接SCSI)硬盘的硬盘背板，测试需用到的器件的费用大约要12万元左右；如果测试一个可插10个固态硬盘的硬盘背板，测试需用到的器件的费用大约要15万元左右；

2)测试时间长：通常情况下，如果测试一个可插24个SAS硬盘的硬盘背板，测试需耗时13分钟；如果测试一个可插10个固态硬盘的硬盘背板，测试需耗时18分钟；

3)测试覆盖率低：采用现有的测试方法的测试覆盖率在85％左右，不能覆盖到同一功能的PIN脚的空焊，如供电和接地，这些PIN脚的空焊会严重影响到服务器长期稳定的运行；

4)误测和漏测的风险高：测试在启动后，仍然需要测试人员参与判断，这就存在误测的可能性，例如，LED灯工作状态的判定等。而且，测试过程中，需要手动刷入待测硬盘背板的信息，这就存在刷A测B的可能性，从而导致了漏测。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种应用于服务器的硬盘背板的测试治具，用于解决现有技术中服务器的多接口的硬盘背板的测试效率低、成本高、覆盖不全面的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种硬盘背板的测试治具，包括：接口单元、以及设置于所述测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；所述接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，所述接口组与所述待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；所述切换单元与所述接口组相对应：所述切换单元的一端与对应的所述接口组连接，另一端分别与所述单片机和对应的所述端口扩展单元连接；所述端口扩展单元与所述单片机连接，用于将从所述切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至所述单片机；所述单片机通过所述第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个所述切换单元之间的切换，从而实现对所述待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。

于本发明的一实施例中，多个所述接口组设置于所述测试治具的上面板处，所述第一通信接口设置于所述测试治具的侧板处。

于本发明的一实施例中，所述外设电子设备包括PC或树莓派，且通过所述第一通信接口与所述单片机之间实现数据交互，交互数据包括所述测试程序和测试数据。

于本发明的一实施例中，所述单片机包括对所述待测硬盘背板进行测试的测试电路；根据实际的测试需求，所述测试电路和所述测试程序是可调节的。

于本发明的一实施例中，所述接口单元还包括设置于所述测试治具的侧板处的电源接口和第二通信接口组；其中，所述电源接口与所述待测硬盘背板，用于为所述待测硬盘背板供电；所述第二通信接口组与所述待测硬盘背板的通信接口组连接，且所述第二通信接口组包括：I2C接口、SPI接口、SGPIO接口、USB接口和网络接口。

于本发明的一实施例中，所述单片机还与所述第二通信接口组连接，用于实现对所述待测硬盘背板的通信接口组的测试。

于本发明的一实施例中，所述接口组包括硬盘接口组、LED接口组和数据读写接口组；所述硬盘接口组，与所述待测硬盘背板上对应硬盘的硬盘接口组连接；所述LED接口组，与所述待测硬盘背板上对应硬盘的LED测试信号接口组连接；所述数据读写接口组，与所述待测硬盘背板上的对应硬盘的数字读写接口组连接。