[发明专利]一种大视场曝光系统有效
申请号: | 201610876749.1 | 申请日: | 2016-09-30 |
公开(公告)号: | CN107885041B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 孙晶露;郭银章 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 视场 曝光 系统 | ||
1.一种大视场曝光系统,其特征在于,包括沿光路依次设置的光源、照明模块、掩模台、投影物镜模块和工件台,所述投影物镜模块由若干子投影物镜单元沿非扫描方向拼接而成,每个所述子投影物镜单元包括平板、楔板和透镜,所述平板、楔板和透镜由负折射率材料或在曝光波段折射率为负的材料制成。
2.根据权利要求1所述的大视场曝光系统,其特征在于,每个所述子投影物镜单元包括两个楔板、两个平板和两个透镜依次排列而成,其中两个所述楔板相对设置,两个所述透镜之间设有空气间隙。
3.根据权利要求1所述的大视场曝光系统,其特征在于,每个所述子投影物镜单元包括两个平板、三个透镜和两个楔板依次排列而成,其中三个所述透镜两两之间均设有空气间隙,两个所述楔板相对设置。
4.根据权利要求2或3所述的大视场曝光系统,其特征在于,两个所述楔板之间沿楔面方向相对运动以调节物面和像面的共轭距。
5.根据权利要求2或3所述的大视场曝光系统,其特征在于,其中一个所述楔板绕X轴旋转以改变像面在Y方向的倍率,绕Z轴旋转以改变像面在Y方向的倾斜角度。
6.根据权利要求2或3所述的大视场曝光系统,其特征在于,两个所述平板绕X轴旋转以改变像面在Y方向的水平位置,绕Y轴旋转以改变像面在X方向的水平位置。
7.根据权利要求2或3所述的大视场曝光系统,其特征在于,相邻两个所述透镜之间的空气间隙沿Z方向发生变化以改变子投影物镜单元的倍率。
8.根据权利要求1所述的大视场曝光系统,其特征在于,每个所述子投影物镜单元包括一侧为平面另一侧为球面的第一透镜、双侧均为球面的第二透镜、一面为球面另一面为楔形平面的第三透镜、楔板和平板依次排列而成。
9.根据权利要求8所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述第一透镜和第二透镜相对一侧的球面的曲率半径对应,所述第二透镜和第三透镜相对一侧的球面的曲率半径对应。
10.根据权利要求9所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述第一透镜和第三透镜为平凸透镜或平凹透镜。
11.根据权利要求9所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述第二透镜为双凹透镜或双凸透镜或弯月透镜。
12.根据权利要求8所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述第一透镜、第二透镜、第三透镜两两之间的空气间隙沿Z方向发生变化以改变子投影物镜单元的倍率。
13.根据权利要求8所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述楔板绕X轴旋转以改变像面在Y方向的倍率,绕Z轴旋转以改变像面在Y方向的倾斜角度。
14.根据权利要求8所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述平板绕X轴旋转以改变像面在Y方向的水平位置,绕Y轴旋转以改变像面在X方向的水平位置。
15.根据权利要求1所述的大视场曝光系统,其特征在于,所述投影物镜模块的纵截面为矩形结构,所述矩形的高度D与物距d1,像距d2,负折射材料折射率n’及入射光半角θ1之间的关系为
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