[发明专利]一种氧化还原响应型溶致液晶材料有效
申请号: | 201610882333.0 | 申请日: | 2016-09-30 |
公开(公告)号: | CN106632850B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 邱永福;程志毓;徐平如;常学义;范洪波 | 申请(专利权)人: | 东莞理工学院 |
主分类号: | C08F230/04 | 分类号: | C08F230/04;C08F218/18;C08F2/48;C09K19/40;C09K19/38;B01F17/18;B01F17/08 |
代理公司: | 广东前海律师事务所 44323 | 代理人: | 张绍波 |
地址: | 523808 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氧化 还原 响应 型溶致 液晶 材料 | ||
1.一种氧化还原响应型溶致液晶材料,其特征在于:所述材料分子式为:11-二茂铁基正十一烷基甲基丙烯酸乙酯基二甲基溴化铵,所述材料能够实现还原态(I+)和氧化态(I2+)的可逆转换。
2.如权利要求1所述的材料,其特征在于:所述可逆转换能够在室温下进行。
3.如权利要求2所述的材料,其特征在于:氧化时,在所述材料中加入1.1倍摩尔量的氧化剂硫酸铁,还原时是加入1.1倍摩尔量的还原剂抗坏血酸,所述材料的水体系在还原态时为黄色液体,氧化后为蓝色液体。
4.如权利要求3所述的材料,其特征在于:在50wt%I+水溶液中,硫酸铁氧化后,处于还原态的I+水溶液原有的三级衍射峰全部消失,I2+水溶液处于无定形态;通过光聚合的方法固定I+水溶液的溶致液晶结构,采用对浓度50wt%I+水溶液原位光聚合,发现聚合后,XRD衍射峰有序度减低,但仍然可以观察到衍射峰,说明有序结构得以保持,只是有序程度有所下降;即通过紫外光引发,成功实现了I+的光聚合,聚合后液晶织构保持。
5.如权利要求2所述的材料,其特征在于:在高浓度的I+水溶液存在溶致液晶行为;所述高浓度的I+水溶液具体为≥40wt%。
6.如权利要求5所述的材料,其特征在于:室温下I+的水溶液存在长程有序结构,I+水溶液在40~60wt%浓度范围内都是典型的层状结构,随着浓度的提高,层状结构越发规整,超过60wt%,溶液粘度很高,未观察到明显有序结构;在浓度为30wt%时,体系没有明显双折射现象即没有溶质液晶现象,当体系粘度提高到40wt%时,体系可以观察到双折射现象即开始存在溶质液晶现象,随着浓度的进一步提高,双折射现象越发明显,即溶质液晶有序度明显提高。
7.如权利要求6所述的材料,其特征在于:在紫外光下能够完成聚合。
8.一种如权利要求7所述材料的聚合方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)在I+的水溶液中,加入紫外光引发剂,和光交联剂,形成混合体系;
(2)对混合体系通入氩气鼓泡,进行除氧30分钟,除氧完成后,用橡皮塞密封;
(3)用紫外光光照进行聚合,所述紫外光照的光强为3mW/cm2;
(4)在I+的重水体系中,监控双键的质子峰是否完全消失,如果未完全消失,则继续步骤(3),如果消失,则进入步骤(5);
(5)聚合完成。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于:所述紫外光引发剂为2,2-二甲氧基-2-苯基乙酰苯(DMPA),其用量为1wt%;所述光交联剂为邻苯二甲酸二烯丙酯(DAP),其用量为2wt%。
10.如权利要求8所述的方法,其特征在于:所述聚合时间为5分钟。
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