[发明专利]一种基于谱反演法的离散雨滴介质的相位屏建模方法有效
申请号: | 201610895631.3 | 申请日: | 2016-10-13 |
公开(公告)号: | CN106644104B | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 林连雷;许永辉;杨京礼 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00;G01J11/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 杨立超 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 雨滴 相位屏 势能 散射 反演 建模 公式表示 傅立叶变换 介电常数 功率谱 二阶 粒子 功率谱函数 介质折射率 仿真模型 混合介质 获得传输 相位扰动 虚拟试验 场信息 光场 激光 三维 传输 | ||
1.一种基于谱反演法的离散雨滴介质的相位屏建模方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一:获取在位置r处的雨滴粒子相对于在位置Rj处雨滴粒子的散射势能V(r);
步骤二:使用傅立叶变换表示雨滴粒子的散射势能V(r),得到经傅立叶变换后的散射势能V0(r);
步骤三:通过经傅立叶变换后的散射势能V0(r)以及单个散射粒子的散射幅度函数f0(K),并结合Born近似方法,得到:
其中K为空间频率,f0(K)表示平面波经过一个半径为a的粒子后其散射振幅的空间频谱,为散射势能的近似值;
步骤四:通过公式表示雨滴粒子介电常数的二阶相关矩三维功率谱函数
其中,εp(r)为雨滴粒子的介电常数,为雨滴粒子介电常数的伴随矩阵,r1和r2为任意的两个径向距离;
步骤五:通过公式表示雨滴的介电常数功率谱
其中,a为雨滴半径,p(a,J)是雨滴尺度谱分布,与降雨强度参数J有关,降雨强度的单位为mm/h,表示每小时在单位面积上的降雨厚度,为f0(K)的伴随矩阵,k为光波的波数,m0为电子的静止质量;
步骤六:根据介电常数与折射率的关系,结合p(a,J),通过公式表示雨滴介质折射率二阶相关矩功率谱
其中am是雨滴的平均粒子半径;
步骤七:使用von Kármán模型表示湍流的折射率二阶相关矩功率谱
其中,是湍流折射率的结构常数,K0=2π/L0,Km=5.92/l0,L0和l0分别为湍流谱的外尺度和内尺度;
步骤八:根据步骤六以及步骤七获得折射率起伏谱:
步骤九:根据谱反演法以及步骤八获得传输路径上混合介质的相位屏模型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤三中,所述f0(K)具体为:
其中k为波数,J1表示一阶贝塞尔函数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤二中,所述经傅立叶变换后的散射势能V0(r)具体为:
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤一具体为:
建立雨滴粒子的介电常数与其散射势能V(r)的关系:其中,k为波数;
将V(r)表示为:其中V0(r-Rj)是位于r处的雨滴粒子相对于在Rj处雨滴粒子的散射势能。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤五中,所述雨滴尺度谱分布p(a,J)使用泊松分布描述,具体为:
p(a,J)=m(J)exp[-n(J)a];
其中,m(J)=4.382×106J0.112m-4;n(J)=5932J-0.182m-1。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤六中,雨滴的平均粒子半径am具体为:
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤七中,具体为
其中,Δz为两个相位屏间的距离,Δzi为第i个相位屏与第i+1个相位屏的间距,公式中的等号表示赋值运算。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤七中,具体为
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学,未经哈尔滨工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610895631.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型的过热器吊装装置
- 下一篇:一种轴流转桨式水轮机转轮耐压操作试验系统