[发明专利]电子封装件及其制法有效
申请号: | 201610896700.2 | 申请日: | 2016-10-14 |
公开(公告)号: | CN107887363B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 许习彰;刘鸿汶 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;H01L23/00;H01L23/498;H01L21/48 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 封装 及其 制法 | ||
一种电子封装件及其制法,包括:绝缘层、嵌埋于该绝缘层中的电子元件、设于该绝缘层上的介电层、设于该介电层上并电性连接该电子元件的线路层、以及设于该介电层中并围绕该线路层的止挡层,以令该止挡层作为切单过程中的对位标的,避免切割位置超出误差范围及产品损耗问题。
技术领域
本发明关于一种半导体封装技术,特别是指一种晶圆级封装技术。
背景技术
随着电子产业的蓬勃发展,电子产品也逐渐迈向多功能、高性能的趋势。为了满足半导体封装件微型化(miniaturization)的封装需求,发展出晶圆级封装(Wafer LevelPackaging,简称WLP)的技术。
如图1A至图1D,其为现有晶圆级半导体封装件1的制法的剖面示意图。
如图1A所示,形成一热化离型胶层(thermal release tape)11于一承载件10上。
接着,置放多个半导体元件12于该热化离型胶层11上,该些半导体元件12具有相对的作用面12a与非作用面12b,各该作用面12a上均具有多个电极垫120,且各该作用面12a黏着于该热化离型胶层11上。
如图1B所示,形成一封装胶体13于该热化离型胶层11上,以包覆该半导体元件12。
如图1C所示,进行烘烤制程以硬化该封装胶体13,而同时该热化离型胶层11因受热后会失去黏性,故可一并移除该热化离型胶层11与该承载件10,以外露该半导体元件12的作用面12a。
如图1D所示,进行线路重布层(Redistribution layer,简称RDL)制程,形成一线路重布结构14于该封装胶体13与该半导体元件12的作用面12a上,令该线路重布结构14电性连接该半导体元件12的电极垫120。接着,形成一绝缘保护层15于该线路重布结构14上,且该绝缘保护层15外露该线路重布结构14的部分表面,以供结合如焊球的导电元件16。最后进行切单制程。
然而,现有半导体封装件1的制法中,由于该线路重布结构14上的绝缘保护层15会覆盖于后续切单制程的切割道L上,故当进行切单制程时,需额外进行曝光、显影及蚀刻等制程以移除该切割道L上的绝缘保护层15的材料,导致该半导体封装件1的制作成本高,且该切割道L上易残留该绝缘保护层15的材料,而影响切割品质。
此外,该绝缘保护层15的边缘易造成切割时的误认,因而造成良率上的损失及信赖性问题。
因此,如何克服上述现有技术的种种问题,实已成目前亟欲解决的课题。
发明内容
鉴于上述现有技术的种种缺失,本发明提供一种电子封装件及其制法,避免切割位置超出误差范围及产品损耗问题。
本发明的电子封装件包括:绝缘层;电子元件,其嵌埋于该绝缘层中;介电层,其形成于该绝缘层与该电子元件上;线路层,其形成于该介电层上并电性连接该电子元件;以及止挡层,其形成于该介电层中并围绕该线路层。
本发明亦提供一种电子封装件的制法,其包括:提供一嵌埋有电子元件的绝缘层;形成介电层于该绝缘层上;以及形成电性连接该电子元件的线路层于该介电层上,且形成围绕该线路层的止挡层于该介电层中。
前述的电子封装件及其制法中,该电子元件外露于该绝缘层的第二侧。
前述的电子封装件及其制法中,该止挡层为导体。
前述的电子封装件及其制法中,该止挡层为环形。
前述的电子封装件及其制法中,该止挡层电性连接该线路层的接地部。
前述的电子封装件及其制法中,还包括形成增层结构于该介电层与该线路层上,且该止挡层还形成于该增层结构中。例如,该止挡层的纵剖面形状呈迭杯状或柱状。
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