[发明专利]从酸性铜电镀浴液向衬底上的通孔中电镀铜的方法有效
申请号: | 201610908320.6 | 申请日: | 2016-10-18 |
公开(公告)号: | CN106609384B | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | M·托尔塞斯;M·斯卡利西;C·西罗 | 申请(专利权)人: | 罗门哈斯电子材料有限责任公司 |
主分类号: | C25D3/38 | 分类号: | C25D3/38;C25D7/12;C25D5/02;H01L21/288;H01L21/768 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈哲锋;胡嘉倩 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 酸性 电镀 浴液 衬底 通孔中电 镀铜 方法 | ||
1.一种使用铜填充电子装置中的通孔的方法,其包含:
a)提供酸性铜电镀浴液,其包含铜离子源、酸电解质、卤离子源、加速剂、调平剂、具有下式的伯醇烷氧基化物嵌段共聚物:
其中R为直链或分支链C1-C15烷基部分或直链或分支链C2-C15烯基部分且m和n可以相同或不同并且为各部分的摩尔数,其中所述伯醇烷氧基化物的重量平均分子量为500g/mol到20,000g/mol,以及三嵌段共聚物,其中所述三嵌段共聚物具有式:
其中a和b可相同或不同并且为各部分的摩尔数,且所述三嵌段共聚物的HLB为16到35且所述铜电镀浴液的表面张力<40mN/m;
b)提供电子装置衬底作为阴极,所述衬底具有一个或多个打算用铜填充的硅通孔并且具有导电表面;
c)使电子装置衬底与所述铜电镀浴液接触;以及
d)施加电势持续足以用铜沉积物填充所述硅通孔的时间段;其中所述硅通孔中的所述铜沉积物在退火之前不具有≥0.1μm尺寸的空隙,且在任何维度中都不具有>2μm的表面缺陷。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述三嵌段共聚物的所述HLB为17到25。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述三嵌段共聚物的所述HLB为18到25。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述导电表面为晶种层。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述晶种层为铜晶种层。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述电子装置为晶片或晶粒。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述电子装置衬底的一个或多个硅通孔具有5到600μm的深度,1到200μm的直径。
8.一种酸性铜电镀浴液组合物,其包含:铜离子源、酸电解质、卤离子源、加速剂、调平剂、具有下式的伯醇烷氧基化物嵌段共聚物:
其中R为直链或分支链C1-C15烷基部分或直链或分支链C2-C15烯基部分且m和n可以相同或不同并且为各部分的摩尔数,其中所述伯醇烷氧基化物的重量平均分子量为500g/mol到20,000g/mol,以及三嵌段共聚物,其中所述三嵌段共聚物具有式:
其中a和b可相同或不同并且为各部分的摩尔数,且所述三嵌段共聚物的HLB为16到35且所述铜电镀浴液的表面张力<40mN/m。
9.根据权利要求8所述的酸性铜电镀浴液组合物,其中所述三嵌段共聚物的所述HLB为17到25。
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