[发明专利]从酸性铜电镀浴液向衬底上的通孔中电镀铜的方法有效

专利信息
申请号: 201610908320.6 申请日: 2016-10-18
公开(公告)号: CN106609384B 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: M·托尔塞斯;M·斯卡利西;C·西罗 申请(专利权)人: 罗门哈斯电子材料有限责任公司
主分类号: C25D3/38 分类号: C25D3/38;C25D7/12;C25D5/02;H01L21/288;H01L21/768
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈哲锋;胡嘉倩
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 酸性 电镀 浴液 衬底 通孔中电 镀铜 方法
【权利要求书】:

1.一种使用铜填充电子装置中的通孔的方法,其包含:

a)提供酸性铜电镀浴液,其包含铜离子源、酸电解质、卤离子源、加速剂、调平剂、具有下式的伯醇烷氧基化物嵌段共聚物:

其中R为直链或分支链C1-C15烷基部分或直链或分支链C2-C15烯基部分且m和n可以相同或不同并且为各部分的摩尔数,其中所述伯醇烷氧基化物的重量平均分子量为500g/mol到20,000g/mol,以及三嵌段共聚物,其中所述三嵌段共聚物具有式:

其中a和b可相同或不同并且为各部分的摩尔数,且所述三嵌段共聚物的HLB为16到35且所述铜电镀浴液的表面张力<40mN/m;

b)提供电子装置衬底作为阴极,所述衬底具有一个或多个打算用铜填充的硅通孔并且具有导电表面;

c)使电子装置衬底与所述铜电镀浴液接触;以及

d)施加电势持续足以用铜沉积物填充所述硅通孔的时间段;其中所述硅通孔中的所述铜沉积物在退火之前不具有≥0.1μm尺寸的空隙,且在任何维度中都不具有>2μm的表面缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述三嵌段共聚物的所述HLB为17到25。

3.根据权利要求2所述的方法,其中所述三嵌段共聚物的所述HLB为18到25。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述导电表面为晶种层。

5.根据权利要求4所述的方法,其中所述晶种层为铜晶种层。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述电子装置为晶片或晶粒。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述电子装置衬底的一个或多个硅通孔具有5到600μm的深度,1到200μm的直径。

8.一种酸性铜电镀浴液组合物,其包含:铜离子源、酸电解质、卤离子源、加速剂、调平剂、具有下式的伯醇烷氧基化物嵌段共聚物:

其中R为直链或分支链C1-C15烷基部分或直链或分支链C2-C15烯基部分且m和n可以相同或不同并且为各部分的摩尔数,其中所述伯醇烷氧基化物的重量平均分子量为500g/mol到20,000g/mol,以及三嵌段共聚物,其中所述三嵌段共聚物具有式:

其中a和b可相同或不同并且为各部分的摩尔数,且所述三嵌段共聚物的HLB为16到35且所述铜电镀浴液的表面张力<40mN/m。

9.根据权利要求8所述的酸性铜电镀浴液组合物,其中所述三嵌段共聚物的所述HLB为17到25。

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