[发明专利]一种天平加载头位姿检测装置有效
| 申请号： | 201610910346.4 | 申请日： | 2016-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN107063082B | 公开（公告）日： | 2019-09-20 |
| 发明（设计）人： | 江孝国;李洪;杨兴林;王远;杨国君;龙全红;张小丁;李一丁;蒋薇;李伟峰 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01M9/06 | 分类号： | G01M9/06;G01B11/00;G06T7/00;G06K9/32;G06K9/62 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 冯龙 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光斑照射 加载头 位置探测器 光学成像系统 位姿检测装置 天平 位置探测 位置姿态 指示光源 靶面 中心孔中心线 大范围变化 高精度测量 高精密检测 开口中心线 复位位置 中心孔 检测 重合 加载 背面 开口 监测 申请 | ||
1.一种天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述装置包括：
指示光源、位置探测结构，所述指示光源安装在待检测天平加载头上表面， 所述位置探测结构包括：指示光斑照射靶面、光学成像系统、位置探测器，所述指示光斑照射靶面开设有中心孔，所述位置探测器的端面设有开口，所述开口中心线与所述中心孔中心线重合，所述位置探测器固定在所述指示光斑照射靶面的背面，所述光学成像系统位于所述指示光斑照射靶面的正面前方。
2.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述光学成像系统包括：CCD相机和镜头。
3.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述位置探测结构固定在安装支架上。
4.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述装置具体包括4个位置探测结构，所述4个位置探测结构均匀分布在待检测天平加载头四周。
5.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述装置还包括连接支架，所述连接支架一端与所述光学成像系统连接，所述连接支架另一端与所述位置探测器连接。
6.根据权利要求1所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述位置探测器具体包括：外壳、光电探测器、光电探测器安装板、信号处理器，所述光电探测器、所述光电探测器安装板、所述信号处理器均安装在外壳内，所述光电探测器芯片安装在光电探测器安装板上，所述光电探测器与所述信号处理器连接，所述光电探测器中心线与所述开口中心线重合。
7.根据权利要求6所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述光电探测器的测量面积大于中心孔的面积。
8.根据权利要求6所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述光电探测器包括：面阵CCD、二维PSD。
9.根据权利要求6所述的天平加载头位姿检测装置，其特征在于，所述光电探测器安装板通过紧固螺钉固定在外壳上。
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