[发明专利]用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备在审
申请号: | 201610910524.3 | 申请日: | 2016-10-19 |
公开(公告)号: | CN106562799A | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 谢思维;黄秋;龚政;赵指向;翁凤花;彭旗宇 | 申请(专利权)人: | 武汉中派科技有限责任公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G01T1/202;G01T1/29 |
代理公司: | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙)11481 | 代理人: | 徐丁峰,戴亚南 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 正电子 发射 成像 设备 检测器 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉中派科技有限责任公司,未经武汉中派科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610910524.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:平板探测器系统及其快速配置和影像导出的方法
- 下一篇:一种听诊仪