[发明专利]一种高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器在审
申请号: | 201610911122.5 | 申请日: | 2016-10-18 |
公开(公告)号: | CN107957631A | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 李萍;史云玲 | 申请(专利权)人: | 天津领芯科技发展有限公司 |
主分类号: | G02F1/035 | 分类号: | G02F1/035 |
代理公司: | 天津市三利专利商标代理有限公司12107 | 代理人: | 张义 |
地址: | 300000 天津市北辰区北辰经济*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 调制 效率 铌酸锂 薄膜 电光 调制器 | ||
1.一种高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器,其特征在于,基底材料(1)、下层电极(2)、下缓冲层(3)、铌酸锂薄膜(4)、光学波导(5)、上缓冲层(6)、上层电极(7),所述上层电极(7)为信号级,包括正电极和负电极,正电极和负电极分别位于左右两侧光学波导(5)上方,所述下层电极为地电极,所述铌酸锂薄膜(4)为具有单晶结构的、厚度为0.1μm至10μm的铌酸锂薄膜材料。
2.根据权利要求1所述的高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器,其特征在于,所述铌酸锂薄膜(4)由左半侧薄膜部分和右半侧薄膜部分组成,其中左半侧薄膜部分具有+c极化方向或-c极化方向,相对应地,右半侧薄膜部分具有-c极化方向或+c极化方向。
3.根据权利要求1或2所述的高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器,其特征在于,所述基底材料(1)采用厚度为0.1mm至2mm的z切铌酸锂体晶材料;所述下层电极(2)采用厚度为0.1um至30um的金或铝金属薄膜;所述下缓冲层(3)和上缓冲层(6)采用厚度为0.1um至5um的二氧化硅或氧化铝薄膜;所述光学波导(5)为钛扩散光学波导或退火质子交换光学波导,波导扩散宽度为1至20μm,扩散深度为1至20μm;所述上层电极(7)采用厚度为0.1um至30um的金或铝金属薄膜。
4.根据权利要求1或2所述的高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器,其特征在于,所述基底材料(1)、下层电极(2)以及下缓冲层(3)采用0.1mm至2mm低阻硅晶体材料,所述光学波导(5)为钛扩散光学波导或退火质子交换光学波导,波导扩散宽度为1至20μm,扩散深度为1至20μm;所述上缓冲层(6)采用厚度为0.1um至5um的二氧化硅或氧化铝薄膜;所述上层电极(7)采用厚度为0.1um至30um的金或铝金属薄膜。
5.根据权利要求4所述的高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器,其特征在于,所述低阻硅基底材料通过其低阻值特性起到了下层电极的作用,并通过导电胶将硅基底与金属管壳粘接使低阻硅基底成为地电极。
6.根据权利要求1或2所述的高调制效率的铌酸锂薄膜电光调制器,其特征在于,通过键合工艺与减薄工艺相结合的工艺手段制备。
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