[发明专利]具有光偏置的X射线检测器和/或γ检测器在审

专利信息
申请号: 201610922076.9 申请日: 2016-10-21
公开(公告)号: CN106610499A 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: M·比勒;P·比歇尔;R·菲舍尔;O·施密特;S·F·特德 申请(专利权)人: 西门子医疗有限公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/24
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 王茂华,潘聪
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 有光 偏置 射线 检测器
【权利要求书】:

1.一种用于X射线和/或γ辐射的检测器,包括:

-(a)第一辐射源,所述第一辐射源用位于待被检测的波长范围之外的第一辐射来照射第一电触点;

-(b)第一电触点,可选地在衬底上;

-(c)第一中间层;

-(d)第一层,所述第一层吸收所述待被检测的辐射;

-(e)可选地,第二中间层;

-(f)第二电触点;和

-(g)可选地,第二辐射源,所述第二辐射源用位于所述待被检测的波长范围之外的第二辐射来照射第二电触点;

其中,所述第一电触点、可选地所述衬底和所述第一中间层、和/或所述第二电触点和所述第二中间层对于所述待被检测的辐射实质上是能透射的,并且所述第一中间层实质上吸收所述第一辐射源的所述第一辐射。

2.根据权利要求1所述的检测器,其中,所述第一电触点实质上对于所述第一辐射源的辐射是能透射的。

3.根据权利要求1或2所述的检测器,还包括用于X射线和/或γ辐射的第三辐射源。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的检测器,其中,所述第一辐射源和/或所述第二辐射源是以平面方式施加到所述第一电触点和/或所述第二电触点的OLED膜。

5.根据权利要求1或2所述的检测器,其中,所述第一辐射源是以平面方式施加到所述第一电触点的对于所述待被检测的辐射实质上透明的OLED膜,还包括用于X射线和/或γ辐射的第三辐射源,其中,所述第三辐射源设置在所述第一电触点的与所述第二电触点相对的侧面上。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的检测器,其中,所述第一中间层具有至少匹配所述第一辐射源的所述第一辐射的穿透深度的厚度。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的检测器,其中,所述第一层由将所吸收的X射线和/或γ辐射直接地或准直接地转换成电荷载流子的材料制成。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的检测器,其中,所述第一层包括有机施主-受主混合物,所述有机施主-受主混合物包括两种有机化合物,并且所述第一中间层的材料仅包括所述两种有机化合物中的一种有机化合物。

9.一种用于生产用于X射线和/或γ辐射的检测器的方法,包括:

(i)可选地在衬底上提供第一电触点;

(ii)用第一中间层来涂覆所述第一电触点;

(iii)用吸收所述X射线和/或γ辐射的第一层来涂覆所述第一中间层;

(iv)可选地用第二中间层来涂覆;

(v)用第二电触点来涂覆;

(vi)在所述第一电触点的与所述第二电触点相对的侧面上,提供用位于待被检测的波长范围之外的第一辐射来照射所述第一电触点的第一辐射源;和

(vii)在所述第二电触点的与所述第一电触点相对的侧面上,可选地提供用位于所述待被检测的波长范围之外的第二辐射来照射所述第二电触点的第二辐射源;

其中,所述第一电触点、可选地所述衬底和所述第一中间层、和/或所述第二电触点和所述第二中间层对于所述待被检测的辐射实质上是能透射的,并且所述第一中间层实质上吸收所述第一辐射源的第一辐射。

10.根据权利要求9所述的方法,还包括:提供用于X射线和/或γ辐射的第三辐射源,其中,所述第三辐射源设置在所述第二电触点的与所述第一电触点相对的侧面上。

11.根据权利要求9或10所述的方法,其中,所述第一辐射源和/或所述第二辐射源是以平面方式施加到所述第一电触点和/或所述第二电触点的OLED膜。

12.根据权利要求9所述的方法,其中,所述第一辐射源是以平面方式施加到所述第一电触点的对于所述待被检测的辐射实质上透明的OLED膜,还包括提供用于X射线和/或γ辐射的第三辐射源,其中,第三辐射源设置在所述第一电触点的与所述第二电触点相对的侧面上。

13.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中,所述第一中间层以至少与所述第一辐射源的所述第一辐射的穿透深度相匹配的厚度来涂覆。

14.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中,所述第一层由将所吸收的X射线和/或γ辐射直接地或准直接地转换成电荷载流子的材料制成。

15.根据前述基于方法的权利要求中的任一项所述的方法,其中,所述第一层包括有机施主-受主混合物,所述有机施主-受主混合物包括两种有机化合物,并且所述第一中间层的材料仅包括所述两种有机化合物中的一种有机化合物。

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