[发明专利]一种基于四元二次回归模型定量反演岩石SiO2有效

专利信息
申请号: 201610929309.8 申请日: 2016-10-31
公开(公告)号: CN108007891B 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 王俊虎;杜锦锦 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 二次 回归 模型 定量 反演 岩石 sio base sub
【权利要求书】:

1.一种基于四元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、岩石发射率光谱测量;选用野外采集的若干个岩石样本,对每一个岩石样本均进行热红外辐亮度测量,并进行发射率分离,获得所有岩石样本的发射率曲线;步骤二、岩石样品SiO2含量室内定量化学分析;对岩石样本进行SiO2含量和烧失量百分比分析,用岩石样本SiO2含量百分比减去烧失量百分比即岩石样本的真实SiO2含量,剔除SiO2含量低的岩石样本,剩余岩石样本组成样本集;步骤三、表征岩石SiO2含量诊断波长选取和光谱指数构建;在岩石样本集的发射率曲线中,从8.00~9.70μm波长区间选取2个特征发射谷和2个发射峰对应的波长分别为λ1、λ3、λ2、λ4,从12.25~13.2μm波长区间选取2个特征发射谷和2个发射率对应的波长分别为λ5、λ7、λ6、λ8,获取λ1~λ8波段对应的发射率εmi,其中i=1,2,…,8,计算每个岩石样本的4个SiO2光谱指数Xm1、Xm2、Xm3、Xm4;步骤四、岩石样品SiO2含量定量反演模型构建;基于二分之一岩石样本集岩石的4个SiO2光谱指数,及其岩石样本的真实SiO2含量,运用统计学原理,构建四元二次回归模型即SiO2含量定量反演模型;步骤五、岩石样品SiO2含量定量反演模型精度评价;以剩余二分之一岩石样品集的岩石样本4个SiO2光谱指数Xm1、Xm2、Xm3、Xm4为变量,代入上述反演模型,得到样品集每一个岩石样本的SiO2反演含量;通过对每一个样本的SiO2反演含量与真实含量统计分析得出,四元二次回归模型的平均反演精度高于90%,为有效反演模型。

2.根据权利要求1所述的一种基于四元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法,其特征在于:所述步骤二,剔除SiO2含量百分比低指百分比小于65%的岩石样本。

3.根据权利要求1所述的一种基于四元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法,其特征在于:所述的步骤三的特征波段的波长λ1=8.00764μm,λ2=8.2247μm,λ3=8.6315μm,λ4=9.2125μm,λ5=12.2933μm,λ6=12.5134μm,λ7=12.6265μm,λ8=12.8117μm。

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