[发明专利]一种双功能测量光路结构在审

专利信息
申请号: 201610930040.5 申请日: 2016-10-31
公开(公告)号: CN108020399A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 焦书浩;王飞;厉宇;王磊;赵岩;李刚;芦文莲;彭妍;张君;郭戈;杨依光 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油天然气管道局
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 董亚军
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 功能 测量 结构
【说明书】:

发明提供了一种双功能测量光路结构,包括第一激光器、第二激光器、激光器连入开关、光调制器、环形器、光电探测器、波分复用器和被测光纤,其中,第一激光器和第二激光器分别连接到激光器连入开关;从第一激光器或第二激光器出射的激光经光调制器调制成光信号;光信号进入环形器的第一端口;光信号从环形器的第二端口进入波分复用器的第一端口;光信号从波分复用器的第二端口进入被测光纤,由被测光纤的瑞利散射产生的背向散射光再次进入波分复用器的第二端口;背向散射光从波分复用器的第一端口进入环形器的第二端口;背向散射光从环形器的第三端口进入光电探测器。本发明用一个光路结构实现双功能,节约了成本。

技术领域

本发明涉及光纤通信技术领域,尤其涉及一种双功能测量光路结构。

背景技术

光纤通信技术(optical fiber communications)从光通信中脱颖而出,已成为现代通信的主要支柱之一,在现代电信网中起着举足轻重的作用。对光纤的性能进行测量是保证光纤通信质量的必要措施。OTDR(光学时域反射技术)是广泛应用的测量光纤的技术,其基本原理是利用分析光纤中后向散射光或前向散射光的方法测量因散射、吸收等原因产生的光纤传输损耗和各种结构缺陷引起的结构性损耗。

OTDR技术包括有OTDR光衰减测量和Φ-OTDR振动测量,其中OTDR光衰减测量测试的是光线在光纤传播中的衰减信息,Φ-OTDR振动测量测试的是光线在光纤传播中的振动信息。

在实现本发明的过程中,本发明人发现现有技术中至少存在以下问题:

OTDR光衰减测量和Φ-OTDR振动测量都有互相独立的光路结构,都是由一个激光器提供光信号,由一个单极开关控制,光路无法共用。

发明内容

为了解决上述的技术问题,本发明提供一种双功能测量光路结构,能够共用一个光路结构实现OTDR光衰减测量和Φ-OTDR振动测量两种功能。具体而言,包括以下的技术方案:

一种双功能测量光路结构,包括分别适于OTDR光衰减测量的第一激光器、适于Φ-OTDR振动测量的第二激光器、激光器连入开关、光调制器、环形器、光电探测器、波分复用器和被测光纤,其中,

所述第一激光器和所述第二激光器分别连接到所述激光器连入开关的第一端和第二端,所述激光器连入开关用于选择所述第一激光器和所述第二激光器中之一发射激光;

从所述第一激光器或所述第二激光器出射的激光经所述光调制器调制成光信号;

光信号进入所述环形器的第一端口;

光信号从所述环形器的第二端口进入所述波分复用器的第一端口;

光信号从所述波分复用器的第二端口进入所述被测光纤,由所述被测光纤的瑞利散射产生的背向散射光再次进入所述波分复用器的第二端口;

背向散射光从所述波分复用器的第一端口进入所述环形器的第二端口;

背向散射光从所述环形器的第三端口进入所述光电探测器。

可选择地,所述第一激光器为窄线宽光纤激光器。

可选择地,所述第二激光器为宽频激光器。

可选择地,所述光电探测器为光子光电探测器。

可选择地,所述激光器连入开关为双联二极开关。

可选择地,还包括光调制器驱动器,所述光调制器驱动电连接到所述调制器。

可选择地,还包括第一光放大器,光信号从所述调制器出来后先经过所述第一光放大器放大后再进入所述环形器的第一端口。

可选择地,所述第一光放大器为半导体放大器或光纤放大器。

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