[发明专利]一种PET系统的计数丢失校正方法和装置

权利要求书

1.一种正电子发射断层成像PET系统的计数丢失校正方法，其特征在于，所述方法应用于PET系统，包括：

获取经过随机校正后的待检测对象的扫描数据，所述扫描数据包括每个探测器模块Block的单光子计数率，每两个Block之间的真符合计数和系统单光子计数率；所述系统单光子计数率为所述PET系统包括的各Block的单光子计数率之和；

针对所述扫描数据中的每个真符合计数，确定该真符合计数对应的两个Block；

针对所述两个Block中的每个Block，根据该Block的单光子计数率，获取该Block对应的单光子计数丢失校正因子；

根据所述两个Block的单光子计数丢失校正因子，得到该真符合计数对应的第一部分校正因子；

根据所述扫描数据中的系统单光子计数率，获取该真符合计数对应的第二部分校正因子；

根据所述第一部分校正因子和所述第二部分校正因子，对该真符合计数进行校正。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述两个Block的单光子计数丢失校正因子，得到该真符合计数对应的第一部分校正因子，包括：

将所述两个Block的单光子计数丢失校正因子相乘，得到该真符合计数对应的第一部分校正因子。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，根据所述第一部分校正因子和所述第二部分校正因子，对该真符合计数进行校正，包括：

将所述第一部分校正因子和所述第二部分校正因子，与所述真符合计数相乘，将所得乘积作为校正后的真符合计数；

其中，所述第一部分校正因子用于校正Block上单光子计数的丢失对真符合计数的影响；

所述第二部分校正因子用于校正系统单光子计数对真符合计数的影响。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待检测对象的扫描数据之前，所述方法还包括：

对一个注有放射性药物的模体进行多个时间段的扫描；

统计每个时间段内的药物活度a_i和各Block的实际单光子计数率s_ji，其中，i为时间段编号，j为Block的编号；

根据各Block在无单光子计数丢失的M个时间段内的实际单光子计数率s_ji和该M个时间段内的药物活度a_i，分别计算各Block在无单光子计数丢失情况下的理论单光子计数率与药物活度的比值λ_j，其中，λ_j＝[∑(s_ji/a_i)]/M或λ_j＝(∑s_ji)/(∑a_i)；

根据该比值λ_j，分别计算各Block在每个时间段内分别对应的理论单光子计数率

将除以对应的实际单光子计数率s_ji，分别得到各Block在每个时间段分别对应的单光子计数丢失校正因子

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据该Block的单光子计数率，获取该Block对应的单光子计数丢失校正因子，包括：

获取预先建立的该Block的单光子计数丢失校正模型；

将该Block的单光子计数率代入该Block的单光子计数丢失校正模型，得到该Block对应的单光子计数丢失校正因子；

其中，每个Block的单光子计数丢失校正模型的建立过程如下：

根据各Block在每个时间段分别对应的单光子计数丢失校正因子η_ji和对应的实际单光子计数率s_ji，分别建立各Block的单光子计数丢失校正模型。