[发明专利]探头架

说明书

技术领域

本发明涉及金属探测领域，具体涉及一探头架。

背景技术

探伤仪主要用于探测机加工件内部有无缺陷(裂纹、砂眼、气孔、白点、夹杂等)，焊缝是否合格，查找有无暗伤，从而判定工件合格与否。

现有用于对金属棒探伤的探伤仪，由于金属棒的制作过程中，容易产生形变和误差，导致探伤仪的探测结果不准确，影响金属棒的后续加工与使用。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种便于携带的探头架。

本发明的技术方案如下：

一种探头架，设置于所述金属探伤仪的探头端部，包括与所述探头连接的连接部、套设于所述连接部的调节结构、环设于所述连接部并具收容空间的支架及收容于所述收容空间的探测部。

优选的，所述探测部自所述连接部远离所述探头的一端延伸形成。

优选的，所述调节结构包括相互叠设并可沿同轴心相对旋转的第一调接旋钮和第二调接旋钮，所述第一调接旋钮和所述第二调接旋钮过渡连接，且所述第一调接旋钮或所述第二调接旋钮具有防止所述第一调接旋钮和所述第二调接旋钮分离的卡扣。

优选的，所述第一调接旋钮与所述连接部固接，所述连接部贯穿所述第一调接旋钮的外缘和中心位置之间。

优选的，所述第二调接旋钮远离所述第一调接旋钮的一端与所述支架固接，所述第二调接旋钮螺接于所述连接部上。

优选的，所述连接部包括用于螺接所述第二调接旋钮的螺纹，所述螺纹的直线长度小于所述收容空间的深度。

优选的，所述支架为空心管，所述第一调接旋钮和所述第二调接旋钮为圆柱形调节钮，所述支架、所述第一调接旋钮及所述第二调接旋钮中心轴同轴。

优选的，所述支架远离所述第二调接旋钮的一端形成多个不同尺寸用于固定待探测金属棒的凹槽。

与相关技术相比，本发明提供一种用于探伤仪的探伤头顶部的探头架，所述探头架包括用于固定安装金属棒的支架，使得探伤头与金属棒中心同轴，提高了检测精度和准确度。

附图说明

图1为本发明探头架的结构图；

图2为图1所示探头架的剖面图。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本发明作进一步说明。

请结合参阅图1和图2，所述探头架100设置于所述金属探伤仪的探头端部，包括与所述探头连接的连接部1、套设于所述连接部1的调节结构2、环设于所述连接部1并具收容空间10的支架3及收容于所述收容空间10的探测部4。

所述探测部4自所述连接部1远离所述探头的一端延伸形成；进一步的，所述连接部1、探测部4均可传送所述探头发出的探伤信号。

所述调节结构2包括相互叠设并可沿同轴心相对旋转的第一调接旋钮21和第二调接旋钮23，所述第一调接旋钮21和所述第二调接旋钮23过渡连接，且所述第一调接旋钮21或所述第二调接旋钮23具有防止所述第一调接旋钮21和所述第二调接旋钮23分离的卡扣。

所述第一调接旋钮21与所述连接部1固接，所述连接部1贯穿所述第一调接旋钮21的外缘和中心位置之间。

所述第二调接旋钮23远离所述第一调接旋钮21的一端与所述支架3固接，所述第二调接旋钮23螺接于所述连接部1上。

进一步的，所述第一调接旋钮21用于将所述探测部4的中心轴调节至与所述待检测金属棒的中心轴同轴。

所述第二调接旋钮23用于调节所述探测部4至所述待检测金属棒的距离。

所述连接部1包括用于螺接所述第二调接旋钮23的螺纹11，所述螺纹11的直线长度小于所述收容空间10的深度。

所述支架3为空心管，所述第一调接旋钮21和所述第二调接旋钮23为圆柱形调节钮，所述支架3、所述第一调接旋钮21及所述第二调接旋钮23中心轴同轴。

所述支架3远离所述第二调接旋钮23的一端形成多个不同尺寸用于固定待探测金属棒的凹槽31，所述凹槽31与所述金属棒的尺寸相同。

具体的，所述支架3的数量为多个，可以根据不同的待检测金属棒的尺寸更换不同尺寸的所述支架3。

与相关技术相比，本发明提供一种用于探伤仪的探伤头顶部的探头架，所述探头架包括用于固定安装金属棒的支架，使得探伤头与金属棒中心同轴，提高了检测精度和准确度。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。