[发明专利]一种集中测试装置、方法及系统

权利要求书

1.一种集中测试装置，其特征在于，所述装置包括：

射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路；

所述集中测试装置具备前面板；所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；

相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

其中，所述射频开关阵列单元，至少包括：

第一开关子模块，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；

环形器，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

显示单元，用于提供交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的内部逻辑通道的逻辑连接关系以及通断情况；

相应的，所述控制单元，具体用于解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。

3.根据权利要求1-2任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

从控制单元，用于接收到所述控制单元的指令信息，将所述指令信息转换为控制电平，并发送所述控制电平至所述射频开关阵列单元；

相应的，所述射频开关阵列单元，具体用于根据所述从控制单元发来的控制电平从所述基站的所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行下行测试时，将基站发来的射频下行测试信号输入至所述至少一路目标测试通路，将至少一路目标测试通路的下行输出信号通过与所述环形器的N个测试连接口连接的所述N个仪表连接头传输至频谱测试仪；

和/或，

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行上行测试时，通过与所述集中测试装置的前面板的N个仪表连接头连接的N个测试连接口接收到所述信号源发送的射频上行测试信号，通过所述至少一路目标测试通路将上行输出信号发送至基站。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述集中测试装置设置有背板，所述背板中至少设置有针对至少一个射频通路的射频接口、以及两个级联接口；其中，

所述两个级联接口中的第一级联接口，用于获取到级联输入信息；

所述两个级联接口中的第二级联接口，用于输出级联输出信息；

相应的，所述控制单元，还用于若获取到级联输出信息，则通过从控制单元发送所述级联输出信息至射频开关阵列单元；以及若通过所述第一级联接口接收到级联输入信息，则将所述级联输入信息通过从控制单元发送至射频开关阵列单元；

所述射频开关阵列单元，还用于将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述射频开关阵列单元，还包括：

第二开关子模块，用于当接收到所述从控制单元发来的级联输入信息时，根据所述级联输入信息，控制从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，并将选出的所述至少一路目标测试通路连接至N个测试连接口；

以及当接收到所述从控制单元发来的级联输出信息时，将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。