[发明专利]阻抗测量仪器校准方法及装置

权利要求书

1.一种阻抗测量仪器校准方法，其特征在于，包括：

获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值；

根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值，判断所述阻抗测量仪器是否需要校准；

若需要校准，则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。

2.根据权利要求1所述的阻抗测量仪器校准方法，其特征在于，所述根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值，判断所述阻抗测量仪器是否需要校准，包括：

计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值；

若所述差值大于第一预设阈值，确定所述阻抗测量仪器需要校准；

若所述差值小于或等于所述第一预设阈值，确定所述阻抗测量仪器不需要校准。

3.根据权利要求2所述的阻抗测量仪器校准方法，其特征在于，所述第一预设阈值＝所述标准阻抗条的阻抗的标准值×1％。

4.根据权利要求1-3任一所述的阻抗测量仪器校准方法，其特征在于，

所述标准阻抗条的阻抗的标准值为20～30欧姆；或者

所述标准阻抗条的阻抗的标准值为45～55欧姆；或者

所述标准阻抗条的阻抗的标准值为70～75欧姆。

5.根据权利要求4所述的阻抗测量仪器校准方法，其特征在于，

所述标准阻抗条的阻抗的标准值是周期性确定的。

6.一种阻抗测量仪器校准装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值；

判断模块，用于根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值，判断所述阻抗测量仪器是否需要校准；

校准模块，用于若需要校准，则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。

7.根据权利要求6所述的阻抗测量仪器校准装置，其特征在于，所述判断模块具体包括：

计算单元，用于计算所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值之间的差值；

确定单元，用于若所述差值大于第一预设阈值，确定所述阻抗测量仪器需要校准；

所述确定单元还用于若所述差值小于或等于所述第一预设阈值，确定所述阻抗测量仪器不需要校准。

8.根据权利要求7所述的阻抗测量仪器校准装置，其特征在于，

所述第一预设阈值＝所述标准阻抗条的阻抗的标准值×1％。

9.根据权利要求6-8任一所述的阻抗测量仪器校准装置，其特征在于，

所述标准阻抗条的阻抗的标准值为20～30欧姆；或者

所述标准阻抗条的阻抗的标准值为45～55欧姆；或者

所述标准阻抗条的阻抗的标准值为70～75欧姆。

10.根据权利要求9所述的阻抗测量仪器校准装置，其特征在于，

所述标准阻抗条的阻抗的标准值是周期性确定的。