[发明专利]一种基于趋肤效应的铁磁性导体表面硬度测量方法及系统有效
| 申请号： | 201610958136.2 | 申请日： | 2016-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN107064219B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 杨勇;杨文璐;杨远聪;王华俊;安虹宇 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（武汉） |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立;陈振玉 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区鲁磨路3*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 趋肤效应 铁磁性 导体 表面 硬度 测量方法 系统 | ||
1.一种基于趋肤效应的铁磁性导体材料表面硬度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1：选取多个表面硬度HS(i)互不相同、材质和几何参数均相同的标样，在每个标样上选取两个目标检测点；
步骤2：在所述标样两端加上幅度和频率均相同的高频恒流信号，检测不同已知表面硬度HS(i)的标样上两个所述目标检测点之间的高频电压值VSH(i)；
步骤3：根据不同已知表面硬度HS(i)下两个所述目标检测点之间的高频电压值VSH(i)绘制标样的表面硬度HS(i)随高频电压值VSH(i)的变化曲线HS(i)～VSH(i)；
步骤4：测量待测样品上两个所述目标检测点之间部分在相同高频恒流信号激励时的高频电压值VSH'；
步骤5：在变化曲线HS(i)～VSH(i)中读取所述高频电压值VSH'对应的表面硬度HS'；
其中，标样与待测样品为材质和几何参数均相同的铁磁性导体材料，且标样的表面硬度范围涵盖待测样品的表面硬度范围。
2.根据权利要求1所述的基于趋肤效应的铁磁性导体材料表面硬度测量方法，其特征在于：当标样和待测样品为圆柱形时，所述步骤2和步骤4中，所述高频恒流信号的频率f范围为：
其中，ρ为待测样品的电阻率，μr为待测样品的平均相对磁导率，r为圆柱形待测样品的半径。
3.根据权利要求2所述的基于趋肤效应的铁磁性导体材料表面硬度测量方法，其特征在于：所述高频恒流信号的频率f和幅度可调。
4.一种基于趋肤效应的铁磁性导体材料表面硬度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1：选取多个表面硬度HS(i)互不相同、材质和几何参数均相同的标样，在每个标样上选取两个目标检测点；
步骤2：在所述标样两端加上幅度和频率均相同的高频恒流信号，检测不同已知表面硬度HS(i)的标样上两个所述目标检测点之间的高频电压值VSH(i)；
步骤21a:在各所述标样两端加上频率相同的低频恒流信号，检测两个所述目标检测点之间的部分在不同已知表面硬度HS(i)下的低频电压值VSL(i)；
步骤3:根据在不同已知表面硬度HS(i)下的低频电压值VSL(i)和高频电压值VSH(i)计算待各标样的相对电压值V相对1(i)，并绘制标样的相对电压值V相对1(i)随表面硬度HS(i)的变化曲线V相对1(i)～HS(i)；
步骤4：测量待测样品上两个所述目标检测点之间部分在相同高频恒流信号激励时的高频电压值VSH'；
步骤41a：测量待测样品上两个所述目标检测点之间部分的低频电压值VSL'和高频电压值VSH'；
步骤5：根据高频电压值VSH'与低频电压值VSL'计算待测样品的相对电压值V相对1'，并根据变化曲线V相对1(i)～HS(i)读取所述相对电压值V相对1'对应的表面硬度HS'；
其中，标样与待测样品为材质和几何参数均相同的铁磁性导体材料，且标样的表面硬度范围涵盖待测样品的表面硬度范围。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学（武汉），未经中国地质大学（武汉）许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610958136.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
