[发明专利]硬件在环测试故障信号触发方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及硬件在环测试领域，具体而言，涉及一种硬件在环测试故障信号触发方法和装置。

背景技术

电压源换流器型直流输电系统(VSC HVDC)是一种以可关断器件和脉宽调制(PWM)技术为基础的新型直流输电技术。这种输电技术能够瞬时实现有功和无功的独立解耦控制、给无源网络供电、换流站间无需通讯及易于构建多端直流系统；该技术能够同时向系统提供有功功率和无功功率的紧急支援，实现异步联网，避免传统直流换相失败的弊端，具有提高系统稳定性和输电能力的优势。

研究发现，在VSC直流输电系统的硬件在环测试过程中，电力系统故障的测试是整个柔直测试系统的暂态实验最重要的组成部分，故障的设置时间点对整个系统故障响应特性及稳定性都有一定关系：

当故障时间相同，故障触发角在0度时电压波动最小，此时系统动态波动小，当在90度时电压波动最大，此时系统波动大；当故障触发角相同时，故障时间越长，控制器动态响应越剧烈，越容易故障跳闸。

因此，相关技术中在随机的故障触发角或故障时间下进行硬件在环测试的测试结果无法定量体现系统的测试情况。

发明内容

本发明提供了一种硬件在环测试故障信号触发方法和装置，以至少解决相关技术中随机的故障触发角下进行硬件在环测试的测试结果无法定量体现系统的测试情况的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种硬件在环测试故障信号触发方法，包括：判断被测硬件的主电路电压的当前相位是否与预设相位一致；在当前相位与所述预设相位一致时，在预设故障点产生用于测试所述被测硬件的预设故障类型的故障信号，在产生所述故障信号的同时开始计时；当计时时间到达预设时间值时停止所述故障信号。

可选地，在当前相位与所述预设相位一致时，在预设故障点产生用于测试所述被测硬件的预设故障类型的故障信号包括：在当前相位与所述预设相位不一致的情况下，延迟到所述主电路电压的下一个周期中的当前相位与所述预设相位一致时，在所述预设故障点产生用于测试所述被测硬件的所述预设故障类型的所述故障信号。

可选地，在判断被测硬件的主电路电压的当前相位是否与预设相位一致之前，所述方法还包括：获取所述预设故障类型、所述预设故障点、所述预设相位、所述预设时间值中的一个或者多个。

根据本发明的另一个方面，还提供了一种硬件在环测试故障信号触发装置，包括：判断模块，用于判断被测硬件的主电路电压的当前相位是否与预设相位一致；产生模块，用于在当前相位与所述预设相位一致时，在预设故障点产生用于测试所述被测硬件的预设故障类型的故障信号，以及当计时模块的计时时间到达预设时间值时停止所述故障信号；所述计时模块，用于在所述产生模块产生所述故障信号的同时开始计时。

可选地，所述产生模块，还用于在当前相位与所述预设相位不一致的情况下，延迟到所述主电路电压的下一个周期中的当前相位与所述预设相位一致时，在所述预设故障点产生用于测试所述被测硬件的所述预设故障类型的所述故障信号。

可选地，所述装置还包括：获取模块，用于获取所述预设故障类型、所述预设故障点、所述预设相位、所述预设时间值中的一个或者多个。

通过本发明，采用判断被测硬件的主电路电压的当前相位是否与预设相位一致；在当前相位与预设相位一致时，在预设故障点产生用于测试被测硬件的预设故障类型的故障信号，在产生故障信号的同时开始计时；当计时时间到达预设时间值时停止故障信号的方式，解决了随机的故障触发角下进行硬件在环测试的测试结果无法定量体现系统的测试情况的问题，提高了硬件在环测试的准确性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的硬件在环测试故障信号触发方法的流程图；

图2是根据本发明优选实施例的仿真测试方法的流程示意图；

图3是根据本发明优选实施例的预设相位和预设时长的设置示意图；

图4是根据本发明优选实施例的故障信号触发的示意图；

图5是根据本发明实施例的硬件在环测试故障信号触发装置的结构示意图；

图6是根据本发明实施例的故障点和故障类型的示意图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。