[发明专利]一种成像方法和装置

权利要求书

1.一种成像方法，其特征在于，包括：

获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果；

获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子；

根据所述成像结果、所述补偿因子和预设参数，确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果；

对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加，将累加结果作为所述待测地层的成像结果；

其中，获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果，包括：依次获取所述多个采样点中各个采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场，其中，所述第一检波器方向波场是检波器位置不存在震源时的波场；按照以下方式对所述多个采样点中各个采样点执行以下操作，以得到各个采样点的第一成像矩阵：将当前采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场变换至频域，并将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第一成像矩阵；将所述多个采样点中各个采样点的第一成像矩阵变换至倾角域，得到所述多个倾角中各个倾角的成像结果；

获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子，包括：依次获取所述多个采样点中各个采样点的第二震源方向波场和第二检波器方向波场，其中，所述第二检波器方向波场是检波器位置存在震源时的波场；按照以下方式对所述多个采样点中各个采样点执行以下操作，以得到各个采样点的第二成像矩阵：将当前采样点的第二震源方向波场和第二检波器方向波场变换至频域，并将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第二成像矩阵；将所述多个采样点中各个采样点的第二成像矩阵变换至倾角域，得到所述多个倾角中各个倾角的补偿因子。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，按照以下公式对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加：

其中，image(x,z+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加的结果，L_iFinal(x_i,z_i+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时进行补偿后的成像结果，θ_min≤i≤θ_max，其中，θ_min表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角的最小值，θ_max表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角的最大值，Δz表示预设步长。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，按照以下公式确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果：

L_iFinal(x_i,z_i+Δz)＝L_ia(x_i,z_i+Δz)/(F_ia(x_i,z_i+Δz)+ε)

其中，L_iFinal(x_i,z_i+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时进行补偿后的成像结果，L_ia(x_i,z_i+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时的成像结果，F_ia(x_i,z_i+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时的补偿因子，ε表示所述预设参数，Δz表示预设步长。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设参数在0.0001到0.1之间取值。