[发明专利]一种参考信号的测量方法和装置有效
申请号: | 201610978479.5 | 申请日: | 2016-11-04 |
公开(公告)号: | CN108023717B | 公开(公告)日: | 2021-08-20 |
发明(设计)人: | 李雪茹;刘鹍鹏;曲秉玉 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L5/00 | 分类号: | H04L5/00;H04W24/10 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;李稷芳 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 参考 信号 测量方法 装置 | ||
1.一种信道测量的方法,其特征在于,包括:
基站向用户设备UE发送第一控制信息,所述第一控制信息用于指示所述UE在一个载波上的测量参考信号,其中,所述第一控制信息中包含至少一个第一测量配置集合,用于指示所述UE根据所述至少一个第一测量配置集合测量所述测量参考信号;
所述基站向所述UE发送所述测量参考信号;
所述基站向所述UE发送第二控制信息,其中,所述第二控制信息包含至少一个第二测量配置集合,用于指示所述UE根据所述至少一个第二测量配置集合和所述测量参考信号上报测量结果,其中,至少一个第二测量配置集合与一个第一测量配置集合不同;
在所述第一控制信息和所述第二控制信息中,只在所述第二控制信息中包含上行资源分配信息,所述上行资源分配信息用于指示所述UE上报所述测量结果的信道资源;
其中,
所述第一控制信息中包含至少一个第一测量配置集合包括:
所述第一控制信息中包含第一测量方式集合;所述第一测量方式集合包含至少一个测量所述测量参考信号的方式,其中,所述测量参考信号的方式为所述UE测量所述测量参考信号的方式,所述第二控制信息中包含第二测量方式集合;所述第二测量方式集合为所述第一测量方式集合的子集;
或者
所述第一控制信息中包含至少一个第一测量配置集合包括:
所述第一控制信息中包含第一测量类型集合;所述第一测量类型集合包含所述测量结果的类型,其中,所述测量结果的类型为所述UE测量所述测量参考信号的测量结果的类型,所述第二控制信息中包含第二测量类型集合;所述第二测量类型集合为所述第一测量类型集合的子集。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一测量方式集合包含下列测量方式的一个或多个:开环MIMO发射方法的测量,半开环MIMO发射方法的测量,闭环MIMO发射方法的测量,发射分集发射方法的测量和单天线发射方法的测量,单用户MIMO发射方法的测量,多用户MIMO发射方法的测量。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:
所述第二控制信息中包含第二测量类型集合;所述第二测量类型集合包含所述测量结果的类型,所述第二测量类型集合中,至少有一个所述测量结果的类型是根据所述第一测量类型集合中的测量结果的类型确定的。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一测量类型集合包含下列测量方式的一个或多个:
预编码矩阵指示PMI,信道质量指示CQI,秩指示RI,波束指示CRI,信道矩阵,信道特征向量,信道空间协方差矩阵。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法,其特征在于,所述第一控制信息中包含至少一个第一测量配置集合包括:
所述第一控制信息中包含第一测量粒度集合;所述第一测量粒度集合包含所述测量结果的粒度,其中,所述测量结果的粒度为所述UE测量所述测量参考信号的测量结果的粒度。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:
所述第二控制信息中包含第二测量粒度集合;所述第二测量粒度集合为所述第一测量粒度集合的子集。
7.根据权利要求1至6任意一项所述的方法,其特征在于:所述第一控制信息为下行控制信息DCI或多址接入控制元素MAC CE;和/或
所述第二控制信息为下行控制信息DCI。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610978479.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。