[发明专利]应用于SARADC中的PIP电容阵列的电压系数校准方法有效

专利信息
申请号: 201610986709.2 申请日: 2016-11-09
公开(公告)号: CN106788436B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 王全;马洋;杨磊;王铭义;何进川 申请(专利权)人: 上海芯圣电子股份有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/46
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201616 上海市松江*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 应用于 saradc 中的 pip 电容 阵列 电压 系数 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种应用于SARADC中的PIP电容阵列的电压系数校准方法,所述方法为:在PIP电容阵列中加入误差,用于抵消电压系数所带来的误差,完成PIP电容电压系数校准;

所述在PIP电容阵列中加入误差包括:

获取电压系数对PIP电容阵列带来的误差,根据该误差对PIP电容阵列中部分电容的大小进行调整;

其特征在于,获取电压系数对PIP电容阵列带来的误差的方法为:

获取SARADC中PIP电容阵列的电压参数;

PIP电容阵列从SARADC的采样阶段到转换阶段,根据电压参数,获取在转换阶段PIP电容阵列两端电压差,PIP电容阵列包括第一类电容和第二类电容;第一类电容在转换阶段的第一个周期接基准电压;第二类电容在转换阶段的第一个周期接地;

根据第一类电容两端电压差和第二类电容两端电压差,获取第一类电容和第二类电容的电容变化后的电容值;

根据第一类电容和第二类电容变化后的电容值,获取电压系数对PIP电容阵列带来的误差。

2.根据权利要求1所述的应用于SARADC中的PIP电容阵列的电压系数校准方法,其特征在于,在PIP电容阵列中加入误差的方法为:

减小第一类电容的电容值或增大第二类电容的电容值。

3.根据权利要求1所述的应用于SARADC中的PIP电容阵列的电压系数校准方法,其特征在于,在PIP电容阵列中加入误差的方法为:

当第一类电容数量与第二类电容数量相等时,将第一类电容的电容值从初始电容值变为第二类电容变化后的电容值,第二类电容的电容值不变。

4.根据权利要求1所述的应用于SARADC中的PIP电容阵列的电压系数校准方法,其特征在于,PIP电容阵列的电压参数包括:PIP电容一端连接的基准电压VREF,PIP电容一端连接的输入电压VIN,PIP电容另一端连接的电源正极输入电压VPOS,PIP电容的一阶电压系数VC1,PIP电容的二阶电压系数VC2,所述第一类电容与第二类电容的数目相同。

5.根据权利要求1所述的应用于SARADC中的PIP电容阵列的电压系数校准方法,其特征在于,所述部分电容表示工作在同一周期且压差相同的电容。

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