[发明专利]指针位置检测结构和钟表在审
申请号: | 201610991720.8 | 申请日: | 2016-11-10 |
公开(公告)号: | CN106909063A | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 佐藤雄基;竹松宏 | 申请(专利权)人: | 精工时钟有限公司 |
主分类号: | G04D7/00 | 分类号: | G04D7/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 李辉,邓毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 指针 位置 检测 结构 钟表 | ||
技术领域
本发明涉及指针位置检测结构和钟表。
背景技术
以往,在指针位置检测结构中,已知有以下这样的结构:对于彼此位于不同的驱动轮系且彼此不同轴、沿轴向至少一部分互相重叠的2个齿轮,分别形成位置检测用的开口(齿轮狭缝),并且共用1个位置检测传感器(光传感器)进行各齿轮的位置检测(例如参照专利文献1)。在配置于光传感器的发光元件和受光元件之间的底板上形成有使光传感器的检测光透过的开口(底板狭缝),通过该底板狭缝,缩小光传感器的检测光量,并且只在各齿轮狭缝重叠的情况下使检测光能够透过,从而能够进行各齿轮的位置检测。
专利文献1:日本专利第3328518号公报
另外,在上述结构中,各齿轮狭缝呈沿着各齿轮的圆周方向的圆弧状,该圆周方向的末端呈沿着各齿轮的径向的直线状。
另一方面,底板狭缝形成为沿着彼此不同轴的2个齿轮中的一个齿轮的圆周方向的扇状,该圆周方向的末端呈沿着所述一个齿轮的径向的直线状。
因此,在检测所述一个齿轮的旋转位置时,由于在一方的齿轮狭缝的圆周方向的末端刚刚到达底板狭缝的圆周方向的末端后,开口以与该末端的线段对应的宽度敞开而使检测光开始一下子透过,因此,光传感器的检测光量急剧上升,光传感器的检测误差较小。
另一方面,相对于所述一方的另一方的齿轮狭缝的圆周方向的末端与底板狭缝的圆周方向的末端不一致而交叉,在检测另一个齿轮的旋转位置时,由于在另一方的齿轮狭缝的圆周方向的末端刚刚到达底板狭缝的圆周方向的末端后,开口逐渐稍微敞开而使检测光渐渐地开始透过,因此,光传感器的检测光量缓慢上升,光传感器的检测误差容易变大。
发明内容
本发明是鉴于上述情况而完成的,其目的在于,在指针位置检测结构和钟表中,通过简单的结构使各齿轮的位置检测精度提高,所述指针位置检测结构和钟表利用光传感器进行多个齿轮中的每个齿轮的位置检测,所述多个齿轮彼此不同轴且不同驱动,而且具有沿轴向彼此重叠的部位,所述光传感器是在轴向上隔着所述重叠的部位的公共的光传感器。
上述课题的解决手段
[应用例1]一种指针位置检测结构,其利用光传感器进行多个齿轮中的每个齿轮的位置检测,所述多个齿轮彼此不同轴且不同驱动,而且具有沿轴向彼此重叠的部位,所述光传感器是在轴向上隔着所述重叠的部位的公共的光传感器,其特征在于,在支撑所述多个齿轮的外壳上形成有使所述光传感器的检测光透过的底板开口,在所述多个齿轮上形成有齿轮开口,所述齿轮开口能够根据所述多个齿轮各自的旋转位置而在轴向上与所述底板开口相对,所述底板开口的沿轴向与所述多个齿轮中的每个齿轮的齿轮开口开始重叠的一侧的末端和所述每个齿轮的齿轮开口的沿轴向与所述底板开口开始重叠的一侧的末端具有沿轴向相互一致的线状区域。
[应用例2]上述指针位置检测结构的特征在于,所述每个齿轮的齿轮开口呈在各齿轮的圆周方向上延伸的狭缝形状,所述线状区域是跨越各齿轮开口的整个狭缝宽度而形成的。
[应用例3]上述指针位置检测结构的特征在于,所述底板开口的沿轴向与各齿轮开口结束重叠的一侧的第2末端和所述各齿轮开口的沿轴向与所述底板开口结束重叠的一侧的第2末端具有沿轴向相互一致的第2线状区域。
[应用例4]一种钟表,其特征在于,该钟表具有:上述的指针位置检测结构;接收电路,其接收表示时刻的时刻信息;以及控制部,其根据所述接收电路接收到的所述时刻信息和所述指针位置检测结构检测出的所述多个齿轮中的每个齿轮的位置,对显示时刻进行校正。
根据应用例1和应用例4所述的发明,在检测彼此不同轴且不同驱动的多个齿轮的每个齿轮的旋转位置时,即使在任意一个齿轮的齿轮开口的沿轴向与底板开口开始重叠的一侧的末端到达底板开口的沿轴向与各齿轮的齿轮开口开始重叠的一侧的末端的情况下,由于开口在之后立即以这些末端的线状区域对应的宽度敞开而使检测光开始一下子透过,因此,光传感器的检测光量的上升变急,能够减小光传感器的检测误差。
根据应用例2的发明,在检测各齿轮的旋转位置时,由于开口以各齿轮开口的整个狭缝宽度敞开而使检测光开始一下子透过,因此,光传感器的检测光量的上升变急,能够减小光传感器的检测误差。
根据应用例3的发明,不仅光传感器的检测开始时的检测光量的上升变急,检测结束时的检测光量的下降也变急,能够对光传感器的检测波形进行整理而进一步减小检测误差。
附图说明
图1是本发明的实施方式的电波校正钟表的机芯的主视图。
图2是图1的II-II截面图。
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