[发明专利]一种单丝单缝衍射实验仪在审
申请号: | 201611004443.3 | 申请日: | 2016-11-11 |
公开(公告)号: | CN108074459A | 公开(公告)日: | 2018-05-25 |
发明(设计)人: | 付晋 | 申请(专利权)人: | 天津良益科技有限公司 |
主分类号: | G09B23/22 | 分类号: | G09B23/22 |
代理公司: | 天津市新天方有限责任专利代理事务所 12104 | 代理人: | 李桂英 |
地址: | 300350 天津市津南区滨海民*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量架 半导体激光器 基准导轨 激光器架 控制箱 滑座 单缝衍射实验 光电流放大器 白屏 单丝 可调狭缝 电连接 精准度 夹缝 卡接 可调 上卡 | ||
本发明提供一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接。本发明的有益效果是结构简单、操作简单、精准度高。
技术领域
本发明属于光学实验设备领域,尤其是涉及一种单丝单缝衍射实验仪。
背景技术
单丝、单缝衍射实验时高校理工科基本光学实验之一。但大多数的单丝、单缝衍射实验是通过几件厚重的仪器放置在普通试验台上,组合移动后完成实验,因此实验过程操作很不便利,且很多学生发现由于操作困难会造成实验数据不准确,有的甚至得不到实验结果。
发明内容
本发明的目的是提供一种结构简单、操作简单、精准度高的单丝单缝衍射实验仪,尤其适合高校教学使用。
本发明的技术方案是:一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架、可调夹缝、光电流放大器、白屏、半导体激光器、控制箱,所述基准导轨上设有滑座,所述滑座上设有第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架,所述其中第一横向移动测量架的上方卡接有白屏,所述第二横向移动测量架的上方固定连接有光电流放大器,所述第三横向移动测量架的上方连接有可调狭缝,所述激光器架上卡接有半导体激光器,所述基准导轨的一侧连接有控制箱,所述半导体激光器与控制箱电连接;
进一步的,所述滑座与第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架滑动连接,所述第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架可前后移动还可以左右微调;
进一步的,所述基准导轨、滑座、第一横向移动测量架、第二横向移动测量架、第三横向移动测量架、激光器架的材质均为表面经阳极氧化处理的铝合金材料。
本发明具有的优点和积极效果是:由于采用上述技术方案,结构简单,操作简单,质量轻,方便操作,精确度高。
附图说明
图1是本发明的立体结构示意图。
图中:基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做详细说明。
如图1所示,本发明一种单丝单缝衍射实验仪,包括基准导轨1、滑座2、第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6、可调夹缝7、光电流放大器8、白屏9、半导体激光器10、控制箱11,所述基准导轨1上设有滑座2,所述滑座2上设有第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6,所述其中第一横向移动测量架3的上方卡接有白屏9,所述第二横向移动测量架4的上方固定连接有光电流放大器8,所述第三横向移动测量架5的上方连接有可调狭缝7,所述激光器架6上卡接有半导体激光器10,所述基准导轨1的一侧连接有控制箱11,所述半导体激光器10与控制箱11电连接;
进一步的,所述滑座2与第一横向移动测量架3、第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6滑动连接,所述第二横向移动测量架4、第三横向移动测量架5、激光器架6可前后移动还可以左右微调;
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