[发明专利]用于测量高能光子到达时间的方法及装置有效
申请号: | 201611004839.8 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN106443747B | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 龚政;赵指向;许剑锋;翁凤花;黄秋 | 申请(专利权)人: | 中派科技(深圳)有限责任公司 |
主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00;H05G1/26 |
代理公司: | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人: | 徐丁峰;戴亚南 |
地址: | 518063 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 高能 光子 到达 时间 方法 装置 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中派科技(深圳)有限责任公司,未经中派科技(深圳)有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611004839.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。