[发明专利]一种用于将细长工具与闭塞目标相对齐的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201611005024.1 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN107007353B 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 吴家伟;刘挺;吴锦权 申请(专利权)人: 吴家伟;刘挺;吴锦权
主分类号: A61B34/20 分类号: A61B34/20
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 巴晓艳
地址: 新加坡蔡厝港*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 细长 工具 闭塞 目标 相对 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于将细长工具与闭塞目标相对齐的系统,所述系统包括:

调整机构,配置为调整所述细长工具相对于与所述目标隔开的枢轴点的角度取向;

成像设备,配置为捕获所述细长工具和所述目标的一个或多个X射线图像;以及

处理器,与所述调整机构和所述成像设备通信地耦合,其中所述处理器配置为:

基于从所述成像设备接收的X射线图像的图像数据来提取所述细长工具的欧氏矢量数据;以及

控制所述调整机构以基于所述欧氏矢量数据来迭代地调整所述细长工具的所述角度取向,以便将所述细长工具的纵向轴线与所述目标和所述枢轴点相对齐。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述欧氏矢量数据包括所述细长工具在X射线图像上的图像长度,并且其中所述处理器配置为确定所述图像长度。

3.根据权利要求2所述的系统,其中所述处理器配置为:

基于所述细长工具在第一角度取向的X射线图像来确定所述细长工具的所述图像长度;以及

如果所述图像长度不近似地等于最小值,则自动地控制所述调整机构以基于所述图像长度来将所述细长工具调整到第二角度取向,以便迭代地将所述细长工具的所述纵向轴线与所述目标和所述枢轴点相对齐。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的系统,其中所述调整机构包括基部和平台,其中所述平台配置为与所述基部相平行。

5.根据权利要求4所述的系统,其中所述调整机构还包括将所述基部与所述平台链接的多个臂,所述多个臂配置为沿着平行于所述基部的平面来移动所述平台,以相对于所述枢轴点来调整所述细长工具的所述角度取向。

6.根据权利要求4所述的系统,其中所述平台包括用于支撑所述细长工具的球接头顺应,所述球接头顺应包括配置为允许所述细长工具在其中滑动移动的孔。

7.根据权利要求6所述的系统,其中所述调整机构的所述基部由不透射线材料制成,并且其中所述调整机构的剩余部件由一个或多个透射线材料制成。

8.根据权利要求1-3、5-7中任一项所述的系统,包括:其中所述成像设备是C臂荧光检查仪,所示C臂荧光检查仪配置为捕获实时X射线图像。

9.根据权利要求5所述的系统,其中所述调整机构还包括与所述处理器通信地耦合的至少一个致动器,所述致动器配置为操作所述臂。

10.一种用于将细长工具与闭塞目标相对齐的方法,所述方法包括以下步骤:

捕获所述细长工具和所述目标的一个或多个X射线图像;

基于X射线图像的图像数据来提取所述细长工具的欧氏矢量数据;以及

基于所述欧氏矢量数据来迭代地调整所述细长工具相对于枢轴点的角度取向,以将所述细长工具的纵向轴线与所述目标和所述枢轴点相对齐。

11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述欧氏矢量数据包括所述细长工具在X射线图像上的图像长度。

12.根据权利要求11所述的方法,其中所述调整角度取向包括以下步骤:

基于在第一角度取向的X射线图像来确定所述细长工具的所述图像长度;以及

如果所述图像长度不近似地等于最小值,则自动地控制所述调整机构以基于所述图像长度来将所述细长工具调整到第二角度取向,以便迭代地将所述细长工具的所述纵向轴线与所述目标和所述枢轴点相对齐。

13.根据权利要求10所述的方法,还包括以下步骤:对捕获所述一个或多个X射线图像的成像设备与调整所述细长工具的所述角度取向的调整机构之间的几何关系进行校准。

14.根据权利要求13所述的方法,其中所述校准的步骤包括:确定从初始图像长度达到最小值的迭代的数目。

15.根据权利要求13所述的方法,其中所述调整机构包括基部、以及与所述基部平行的平台,并且所述校准的步骤包括从所述基部固定所述平台的高度。

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