[发明专利]一种多组分样品分析的多模式质谱电离源

权利要求书

1.用于多组分样品分析的多模式质谱电离源，包括光电离源（1）、卤素热解析灯（2）、气相采样管（3）、固或液相载样台（6）、程序升温装置（7）以及离子推斥电极（10）、离子引出电极（11），其特征在于：

光电离源（1）置于质谱的电离源腔体的侧壁上，光电离源（1）所发出的光子位于质谱的电离源腔体内部，气相采样管（3）穿过质谱的电离源腔体外壁，一端与气相待测样品（4）相连，另一端位于光电离源（1）下方光出射方向质谱的电离源腔体内；

于质谱的电离源腔体内、与光电离源（1）相对一侧的位置处设置有固或液相载样台（6），光电离源（1）光出射方向面向固或液相载样台（6），于固或液相载样台（6）内部或远离光电离源（1）一侧设有程序升温装置（7），于固或液相载样台（6）的一侧上方设置有卤素热解析灯（2），卤素热解析灯（2）出射方向朝向固或液相载样台（6）处放置；

载气进样管（8）穿过电离源腔体外壁，一端与载气（9）相连，另一端朝向固或液相载样台（6）；

气相待测样品（4）经由气相采样管（3）进入光电离源（1）电离区域，于质谱的电离源腔体内实现电离；

固或液相待测样品（5）置于固或液相载样台（6）上方，利用程序升温装置（7），使可挥发性待测组分在不同温度下不同沸点的组分逐步挥发；固或液相载样台（6）所放置的固或液相待测样品（5）所挥发出的组分在载气（9）的载带作用下进入光电离源（1）电离区域实现电离；

固或液相待测样品（5）中难挥发或者不挥发性待测组分利用卤素热解析灯（2）进行闪蒸，使固或液相待测样品（5）中难挥发或者不挥发性待测组分进入气相，再由载气（9）的载带作用进入光电离源（1）电离区域实现电离；

测试气相待测样品（4）时，气相采样管（3）通入气相待测样品（4），可将载气（9）更换为试剂气体通过载气进样管（8）通入电离源腔体；

测试固或液相样品（5）时，载气进样管（8）通入载气（9），可将气相待测样品（4）更换为试剂气体通过气相采样管（3）通入电离源腔体。

2.根据权利要求1所述的多组分样品分析的多模式质谱电离源，其特征在于：

质谱的电离源腔体位于质谱的离子推斥电极（10）和离子引出电极（11）之间，离子推斥电极（10）、离子引出电极（11）均为平板状环形电极，离子推斥电极（10）、离子引出电极（11）相互平行、间隔、环形通孔同轴放置，离子推斥电极（10）、离子引出电极（11）轴线与光电离源光子出射方向相垂直；

离子推斥电极（10）与离子引出电极（11）分别放置于光电离源（1）光子出射区域两侧，离子引出电极（11）靠近质量分析器（13）一端；

离子引出电极（11）不少于三块，相互平行、间隔、同轴放置；

于离子引出电极（11）与质量分析器（13）之间设置有差分电极（12），差分电极（12）与离子引出电极（11）同轴放置，差分电极（12）上设置有差分接口小孔（14），差分接口小孔（14）与质量分析器（13）直接相连，差分接口小孔（14）的内径为0.3 ~ 2 mm。

3.根据权利要求1或2所述的多组分样品分析的多模式质谱电离源，其特征在于：

离子推斥电极（10）与离子引出电极（11）之间的区域为光电离区域或试剂离子反应区，间隔为5 ~ 45 mm。

4.根据权利要求1所述的多组分样品分析的多模式质谱电离源，其特征在于：

程序升温装置（7）包括电加热装置，电加热装置为电加热棒、电加热丝、电加热管中的一种或二种以上，于固或液相载样台（6）内设有温度传感器，电加热装置和温度传感器通过导线经温度控制器与外电源相连，程序升温装置（7）可控升温范围在30 ~ 300℃；

卤素热解析灯（2）对样品加热温度范围在50 ~ 600℃，加热时间范围1~30 s。

5.根据权利要求1所述的多组分样品分析的多模式质谱电离源，其特征在于：

固或液相载样台（6）距离光电离源（1）的距离为30 ~ 80 mm，固或液相载样台（6）上设有位置微调板，控制固或液相待测样品（5）位于程序升温装置（7）、卤素热解析灯（2）及光电离源（1）有效工作范围内。