[发明专利]一种天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置及方法有效
申请号: | 201611014117.0 | 申请日: | 2016-11-17 |
公开(公告)号: | CN106595498B | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 曾照勇;夏红娟;彭思平;俞玉澄 | 申请(专利权)人: | 上海无线电设备研究所 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;H01Q1/42 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 潘朱慧 |
地址: | 200090 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 天线罩 测量 内型面 加工 一体化 装置 方法 | ||
1.一种天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置,其特征在于,包含:
四轴联动数控运动装置,用于实现天线罩(10)测量与加工;
天线罩壁厚测量装置,与四轴联动数控运动装置的水平移动机构连接,用于实现天线罩(10)的法向壁厚测量;
天线罩加工装置,与四轴联动数控运动装置的水平移动机构连接,用于实现天线罩(10)内型面加工;
天线罩定位夹紧装置,用于装夹天线罩(10);
其中,所述的四轴联动数控运动装置包含:
床身(1);
控制器(9);
主轴(2),设置在床身(1)上并由控制器(9)控制,其一端连接天线罩定位夹紧装置,主轴(2)、天线罩定位夹紧装置以及天线罩(10)同轴设置,主轴(2)以轴线为回转中心,实现天线罩(10)的回转;
水平移动机构,设置在床身(1)上并由控制器(9)控制,用于实现天线罩壁厚测量装置以及天线罩加工装置的水平移动;
其中,所述的天线罩壁厚测量装置包含:
转台(8),设置在水平移动机构上并由控制器(9)控制;
测量支架(7),连接转台(8);
激光位移传感器(6),设置在测量支架(7)上并由控制器(9)控制,其与测量支架(7)一起随转台(8)转动。
2.如权利要求1所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置,其特征在于:
所述的天线罩加工装置采用车削或磨削方法对天线罩(10)内型面进行加工。
3.如权利要求1所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置,其特征在于,所述的天线罩定位夹紧装置包含:
定位体(3),一端连接所述四轴联动数控运动装置的主轴(2),其另一端对应主轴(2)轴线的位置设有与天线罩(10)拱形小端表面相切的内锥面,实现天线罩(10)的精确定心;
压紧环(5),贴合天线罩(10)大端端面;
多根连接杆(4),一端分别连接定位体(3)的另一端,另一端分别穿过压紧环(5)并通过螺母(502)与压紧环(5)连接固定。
4.如权利要求3所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置,其特征在于:
所述压紧环(5)一端内具有一内孔,该内孔的底面贴合天线罩大端端面,该内孔的内壁面(503)呈锥形,其锥度与天线罩(10)大端外型面相切,且内孔的内壁面(503)与天线罩(10)大端外型面之间留有间隙。
5.如权利要求4所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置,其特征在于:
在所述压紧环(5)对应内孔位置的径向上设置接触天线罩(10)大端外型面的紧定螺钉(501),通过紧定螺钉(501)调节天线罩(10)的同心度。
6.如权利要求4所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置,其特征在于:
在每根所述连接杆(4)上对应压紧环(5)一端端面的位置分别设有定位端面(402),该定位端面(402)与压紧环(5)一端端面贴紧,各连接杆(4)的定位端面(402)位于同一平面。
7.一种天线罩定位夹紧方法,采用如权利要求4~6中任意一项所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置实现,其特征在于,包含以下步骤:
S11、将连接杆(4)一端固定在定位体(3)上;
S12、将天线罩(10)拱形小端与定位体(3)内锥面贴合;
S13、将压紧环(5)套入连接杆(4)另一端,使压紧环(5)内孔的底面与天线罩(10)大端端面贴合,且压紧环(5)的内孔的内壁面(503)套在天线罩(10)大端外型面外;
S14、通过螺母(502)将连接杆(4)另一端与压紧环(5)连接,以预紧天线罩(10);
S15、通过紧定螺钉(501)调节天线罩(10)位置,保证天线罩(10)与主轴(2)回转中心同心;
S16、逐步拧紧螺母(502),使天线罩(10)装夹可靠。
8.一种天线罩壁厚测量与内型面加工方法,采用如权利要求4~6中任意一项所述的天线罩壁厚测量与内型面加工一体化装置实现,其特征在于,包含以下步骤:
S1、安装天线罩(10),并定位夹紧;
S2、将天线罩(10)结构参数、四轴联动数控运动装置的各轴零位参数和测量参数输入控制器(9),由控制器(9)计算天线罩(10)内型面、外型面的测量运动轨迹;
S3、按运动轨迹对天线罩(10)内型面的坐标进行测量,控制主轴(2)和转台(8)转动,使激光位移传感器(6)沿天线罩(10)内型面测量点法向进行定距离测量;
S4、按运动轨迹对天线罩(10)外型面的坐标进行测量,控制主轴(2)和转台(8)转动,使激光位移传感器(6)沿天线罩(10)外型面测量点法向进行定距离测量;
S5:根据天线罩(10)实测内、外型面与理论型面的偏差和天线罩(10)理论厚度计算得到天线罩(10)实际壁厚;
S6:根据测量数据,确定天线罩(10)的壁厚超差量和壁厚超差区域,控制器(9)生成加工程序,天线罩加工装置对天线罩(10)内型面进行加工;
S7:对加工后天线罩(10)的内型面坐标进行复测,确定天线罩(10)壁厚是否满足要求,若满足,则结束,若不满足,返回执行步骤S3进行重新测量和加工。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所,未经上海无线电设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611014117.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种光学位移测量系统
- 下一篇:导线覆冰厚度测量图像处理系统