[发明专利]一种数据安全保护方法及设备有效
申请号: | 201611014139.7 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN108073832B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 柯研家;李德超;尹飞飞 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G06F21/75 | 分类号: | G06F21/75;G06F21/71;G06F21/55 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据 安全 保护 方法 设备 | ||
本发明实施例涉及电路技术领域,公开了一种数据安全保护方法及设备,应用于系统芯片的扫描链,其中所述系统芯片集成有嵌入式安全元件eSE模块,所述设备包括:eSE模块整体复位单元,用于接收所述扫描链的状态指示信号;根据所述状态指示信号检测当前所述扫描链是否进入或退出测试状态,当检测到所述扫描链进入或退出测试状态时,则向所述eSE模块输出复位信号,其中所述复位信号用于将所述eSE模块内的触发器置为复位态。实施本发明实施例,能够降低关键数据泄露的风险。
技术领域
本发明涉及电路技术领域,尤其涉及一种数据安全保护方法及设备。
背景技术
eSE模块(英文:embedded Security Element)是移动终端进行安全支付(交易、通信)的核心硬件模块。eSE模块的数据安全性十分重要,例如若eSE模块中加解密引擎在工作过程中产生的运算结果、中间变量值、以静态形式呈现的多组密钥等关键数据泄漏,用户的资金安全将遭受极大威胁。
当前,在集成eSE模块的系统级芯片(System on Chip,SoC)的可测试性设计中,扫描链(英文:Scan chain,以下简称SCAN链)测试占据重要地位。其中SCAN链是以扫描单元为基本单位,采用扫描单元串行连接的方式形成链。在测试过程中,将测试激励从SCAN链的数据输入端输入,通过控制SCAN链的移位使能端SE和时钟端CP,把测试激励串行地移位到扫描单元中,并在SCAN链的数据输出端进行采样测试。
但是,实践中发现,由于SCAN链自身测试的特点,SCAN链为攻击者提供了获取SoC芯片内关键数据的通道,关键数据泄露的风险较高。
发明内容
本发明实施例公开了一种数据安全保护方法及设备,能够降低关键数据泄露的风险。
第一方面,本发明实施例公开了一种数据安全保护设备,应用于系统芯片的扫描链,其中所述系统芯片集成有嵌入式安全元件eSE模块,包括:eSE模块整体复位单元,用于接收所述扫描链的状态指示信号;根据所述状态指示信号检测当前所述扫描链是否进入或退出测试状态,当检测到所述扫描链进入或退出测试状态时,则向所述eSE模块输出复位信号,其中所述复位信号用于将所述eSE模块内的触发器全部置为复位态。
通过本发明实施例提供的方案,使得当所述SCAN链进入测试状态时,所述eSE模块整体复位单元对所述eSE模块内的触发器全部置为复位态,即可以复位掉eSE模块工作时生成运算结果、中间变量值、随机数等关键数据,从而有效地避免了在所述SCAN链处于测试状态时,攻击者通过控制所述SCAN链将所述关键数据移出。
当所述SCAN链退出测试状态时,所述eSE模块整体复位单元对所述eSE模块内的触发器全部置为复位态,即可以复位掉攻击者在测试状态下通过SCAN链对所述eSE模块内部关键数据控制点所设定的驱动值,避免了所述eSE模块内部某些调制手段的控制电路因所述驱动值而被非正当的打开,从而有效地降低在所述eSE模块处于功能模式时,因所述控制电路被非正当的打开而导致所述eSE模块内部关键数据被泄露的风险。
结合第一方面,在第一种可能的实现方式中,所述eSE模块整体复位单元,包括状态切换检测单元和复位信号输出单元,所述状态切换检测单元用于检测所述状态指示信号是否从逻辑高电平切换到逻辑低电平,或者从逻辑低电平切换到逻辑高电平;当检测为是时,触发所述复位信号输出单元向所述eSE模块输出复位信号。
结合第一方面,在第二种可能的实现方式中,所述设备还包括N个关键数据隐藏单元;所述扫描链包括M个关键数据生成单元,所述N和所述M为正整数,所述M大于等于所述N;所述N个关键数据隐藏单元分别与所述M个关键数据生成单元中的N个关键数据生成单元一一对应;所述N个关键数据生成单元分别通过所述关键数据隐藏单元与对应的所述扫描链的扫描单元连接;所述关键数据隐藏单元用于接收所述状态指示信号和所述关键数据生成单元生成的关键数据后,根据所述状态指示信号检测当前所述扫描链是否处于测试状态;当检测到所述扫描链处于测试状态时,则隐藏所述关键数据。
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