[发明专利]一种光场相机微透镜阵列几何参数的标定方法

权利要求书

1.一种光场相机微透镜阵列几何参数的标定方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：将匀光板装在光场相机镜头的前端，对白光源进行拍照，得到光场相机的白图像；

步骤二：对光场相机的白图像进行去马赛克处理，将其转换成真彩图像；

步骤三：检测并提取真彩图像中所有微透镜的边缘轮廓，保存边缘点的坐标；

步骤四：对边缘点的坐标进行随机Hough变换，得到所有微透镜的圆心坐标C_i(x,y)和相对应的半径R_i,并统计微透镜个数N；

还包括对微透镜种类的标定步骤，该步骤包括：

步骤五：根据每个微透镜的圆心C_i(x,y)和半径R_i，分别用二维数组设置覆盖图像上微透镜对应区域的掩膜，将掩膜与原图像相乘，提取出每个微透镜的图像；

步骤六：利用公式(1)的锐度算法函数，对提取出来的每个微透镜图像进行清晰度L_i计算，并将这些微透镜图像按照清晰度L_i进行递增或递减排序；

式中，df表示图像灰度变化的幅值，dx表示相元之间的距离，df/dx计算时取微透镜图像中每个像素的8个邻域，M表示微透镜图像的像素个数；

步骤七：对清晰度L_i按照公式(2)进行差分，并计算这些差分b_i的平均值avg，设定阈值th＝N·avg/15，若某处的差分值b_i大于阈值th，则将该处作为微透镜种类分界点，将两个分界点之间所有微透镜归为一类；

b_i＝|L_i+1-L_i| (2)

步骤八：分类提取整幅图像中某类微透镜的图像，从而最终实现微透镜阵列中参数信息微透镜个数、中心位置、半径大小、微透镜种类及分布的标定。

2.根据权利要求1所述的光场相机微透镜阵列几何参数的标定方法，其特征在于，步骤三中，利用SOBEL算子检测并提取图像中所有微透镜的边缘轮廓。

3.根据权利要求1所述的光场相机微透镜阵列几何参数的标定方法，其特征在于，步骤二中，利用梯度线性插值法对光场相机的白图像进行去马赛克处理。