[发明专利]EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201611019471.2 | 申请日： | 2016-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN106680618A | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 汪桃林;范凤军;陈斌;谢恒贵;马秋萍;戴利剑;曹焕丽 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天探维传媒科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | emi 测量 系统 脉冲 强度 装置 测量方法 | ||
【权利要求书】：
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