[发明专利]光学系统预定位方法有效
申请号: | 201611026655.1 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN106525884B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 李晓东;宫宇;李延春;杨栋亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01N23/20008 | 分类号: | G01N23/20008;G01L1/24 |
代理公司: | 11438 北京律智知识产权代理有限公司 | 代理人: | 阚梓瑄;王卫忠 |
地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金刚石对顶砧 定位平台 样品腔 第一位置 光学系统 显示位置 荧光测量 预定位 红宝石 金刚石 二向色镜 光谱系统 激光定位 摄像单元 压力测定 照明光源 半反镜 分束镜 激光源 折射率 标定 记录 校正 移动 | ||
本公开提供一种光学系统及该光学系统的荧光测量和预定位方法,光学系统包括定位平台、激光源、照明光源、控制单元、二向色镜、半反镜、分束镜、摄像单元以及显示单元。方法包括:通过激光定位第一位置,使叉丝的交叉点在显示单元中的显示位置为第一位置,将金刚石对顶砧置于定位平台,定位平台移动使金刚石对顶砧样品腔内的红宝石在显示单元中显示位置为第一位置,完成荧光测量,记录定位平台的坐标,最后根据金刚石对顶砧中金刚石折射率对记录的坐标进行校正。本公开能够实现金刚石对顶砧样品腔的压力测定以及预定位,不仅避免依赖Raman光谱系统对样品腔的压力进行标定,而且缩短了X射线衍射系统对金刚石对顶砧样品腔实验的定位时间。
技术领域
本发明涉及高压实验技术领域,具体而言,涉及一种光学系统及该光学系统的荧光测量方法和该光学系统预定位方法。
背景技术
压力作为一个重要的热力学物理量,在凝聚态物理研究中起着重要的作用。在压力作用下,物质的体积收缩,自由能相应改变,物质相应地也会发生结构形态改变,如物质由液态凝固结晶;原为晶体的固体,可能发生晶体结构或电子结构的变化;在很高的压力下,半导体、绝缘体可能会出现金属转变等,这些现象通常称为高压相变,对它的变化机制与过程探索是高压科学领域研究中一个极为丰富的领域。
X射线衍射、拉曼(Raman)散射等测量手段是提供高压相变信息的有效方法。北京同步辐射装置4W2高压实验站具备DAC(金刚石对顶砧高压装置)、X射线衍射系统、Raman光谱测量系统,可以实现对物质在高压条件下的结构和性质的研究。4W2高压实验站在每年通常会向高校、研究所等实验课题组开放提供三个月的实验机时,这些用户在分派的机时时间内进行实验,实验内容通常是利用DAC在X射线衍射系统上进行X射线衍射实验数据采集以及对DAC的样品腔内的压力进行标定。DAC样品腔内的压力标定通常是利用红宝石荧光标定,即在DAC的样品腔内同时放有待测样品与红宝石颗粒,通过测量红宝石的荧光峰的移动计算当前金刚石对顶砧样品腔内的压力,DAC是由带有磁性底座的Cell支架固定。
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