[发明专利]移动终端及基于移动终端代码缺陷率的计算方法

说明书

本发明公开了一种移动终端，所述移动终端包括：第一计算模块，用于获取测试当前代码得到的漏洞总数，计算项目发货版本代码与项目初始基线版本代码的行数差值，并根据所述漏洞数与行数差值计算代码最小缺陷率；第二计算模块，用于获取同平台同周期的项目群的漏洞数及同周期同版本软件平台项目的漏洞数，获取项目最新基线发货版本代码与项目发货版本相同基线原始代码的行数差值，并根据所述漏洞数与行数差值计算代码最大缺陷率；第三计算模块，用于根据所述代码最小缺陷率和代码最大缺陷率计算代码缺陷率。本发明还公开了一种基于移动终端代码缺陷率的计算方法。本发明能够提高代码缺陷率的准确性。

技术领域

本发明涉及计算代码缺陷率领域，尤其涉及一种移动终端及基于移动终端代码缺陷率的计算方法。

背景技术

随着科学技术的日益发展，移动终端已经成为用户使用热度最高的电子设备，移动终端中所具备的功能越来越多，性能也越来越强大。但随之而来的问题是，移动终端中的软件所包含的源代码行数也越来越多，其中一些软件的源代码的条数已经达到千万条。一个移动终端软件开发项目，从启动项目到顺利完成，一般需要上百个软件工程师。无法准确地计算项目代码的缺陷率。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种移动终端及基于移动终端代码缺陷率的计算方法，旨在更准确地计算项目代码的缺陷率。

为实现上述目的，本发明提供一种移动终端，所述移动终端包括：

第一计算模块，用于获取测试当前代码得到的漏洞总数，计算项目发货版本代码与项目初始基线版本代码的行数差值，并根据所述漏洞数与行数差值计算代码最小缺陷率；

第二计算模块，用于获取同平台同周期的项目群的漏洞数及同周期同版本软件平台项目的漏洞数，获取项目最新基线发货版本代码与项目发货版本相同基线原始代码的行数差值，并根据所述漏洞数与行数差值计算代码最大缺陷率；

第三计算模块，用于根据所述代码最小缺陷率和代码最大缺陷率计算代码缺陷率。

可选地，所述第一计算模块包括：

第一相乘单元，用于将测试当前代码得到的漏洞总数与预设值相乘，获得第一计算结果；

第一相除单元，用于将所述第一计算结果与项目发货版本代码与项目初始基线版本代码的行数差值相除，获得代码最小缺陷率。

可选地，所述第二计算模块包括：

第一相加单元，用于将所述同平台同周期的项目群的漏洞数与同周期同版本软件平台项目的漏洞数相加，获得第二计算结果；

第二相乘单元，用于将所述第二计算结果与预设值相乘，获得第三计算结果；

第二相除单元，用于将所述第三计算结果与所述项目最新基线发货版本代码与项目发货版本相同基线原始代码的行数差值相除，获得代码最大缺陷率。

可选地，所述第三计算模块包括：

第三相乘单元，用于将所述代码最小缺陷率与预设加权平均计算因子相乘，获得第四计算结果；

第四相乘单元，用于将1与所述预设加权平均计算因子相减获得差值，并将所述差值与代码最大缺陷率相乘，获得第五计算结果；

第二相加单元，用于将所述第四计算结果与所述第五计算结果相加，获得代码缺陷率。

可选地，所述移动终端还包括：

第四计算模块，用于根据用户触发的指令计算当前代码行数；

设置模块，用于根据所述当前代码行数设置对应的预设值。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种基于移动终端代码缺陷率的计算方法，所述方法包括以下步骤：