[发明专利]一种基于非均匀傅里叶变换的干涉合成孔径显微方法

权利要求书

1.一种基于非均匀傅里叶变换的干涉合成孔径显微方法，其特征在于：包括以下几个步骤：

步骤1、光谱仪测得的干涉信号为波长空间的均匀采样结果，对该结果进行重采样使干涉信号从波长空间转换到波数空间，得到在波数空间均匀分布的干涉信号数据；

步骤2、将步骤1得到的干涉信号数据，在x轴、y轴方向进行二维傅里叶变换转换到频域；

步骤3、对步骤2所得频域的干涉信号进行匹配滤波；

步骤4、将干涉信号滤波后的数据，进行三维方向的非均匀傅里叶逆变换转换到空间域；

步骤5、对空间域所得结果进行图像增强，最终得到重构的图像结果。

2.根据权利要求1所述的基于非均匀傅里叶变换的干涉合成孔径显微方法，其特征在于：步骤1中所述在波数空间均匀分布的干涉信号数据，即样品的背向散射光和参考光的干涉信号数据，该干涉信号数据的数学模型表示为一个关于光束的横向位置r0和波数k的函数S(r0,k)：

S ( r 0 , k ) = A ( k ) ∫ Σ d 2 r ∫ V d 3 r ′ G ( r ′ , r , k ) g ( r ′ - r 0 , k ) η ( r ′ ) g ( r - r 0 , k ) ]]>

其中，g描述高斯光束的分布特征，表示为其中W(k)＝α/k，α＝π/NA，NA是物镜的数值孔径；A2(k)是光源的功率谱密度，G是格林函数，且为自由空间衍射核，G(r',r,k)＝eik|r-r′|/|r-r'|，r是透镜处的光场位置、r'为样品散射点的位置、r0是接受到散射信号的横向位置、η(r')是样品散射点的散射势。