[发明专利]一种磁光成像缺陷检测方法的阀值优化方法有效
申请号: | 201611029434.X | 申请日: | 2016-11-14 |
公开(公告)号: | CN106600604B | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 殷春;程玉华;田露露;白利兵;黄雪刚;薛建宏;胡彬杨 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06T7/10 | 分类号: | G06T7/10;G06T5/00 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 成像 缺陷 检测 方法 优化 | ||
本发明公开了一种磁光成像缺陷检测方法的阀值优化方法,通过对图像进行特殊的神经元节点选取,筛选出所有可能的局部阀值集合,对其中的阀值进行有效筛选,得到优质的可分割阀值,进而将图像进行有效分割,这样脱离了对材料的依赖性,对磁畴滤除方法奠定了坚实的基础,提高了磁光缺陷检测的速度,简化了检测模型,增强了缺陷检测识别能力,使得后期对缺陷的提取识别提供了有效的支撑。
技术领域
本发明属于磁光成像无损缺陷检测技术领域,更为具体地讲,涉及一种磁光成像缺陷检测方法的阀值优化方法。
背景技术
目前,无损检测越来越受到学者们的关注,因为各种大型设备的制造和运行都需要进行无人化,无损伤化检测与诊断,特别是随着3D打印技术的日趋完善。磁光成像检测则是无损检测中发展迅速的一种电磁光无损检测方法。
现在国内外研究工作都处于一种研究性阶段。很多成果都集中在缺陷的检测中,判断是否存在缺陷。然而随着技术的进步与发展,无损检测需要对缺陷进行提取和识别。一般情况下,磁光图像法检测都要对磁光图像进行灰度化,并二值化。然后进行图像处理过程。因此图像二值化的阀值收索就尤为重要。传统的研究中,阀值是通过实验经验值来选取的,比如专利CN201510896552.X。这种方法选取的阀值,在一定的实验条件下是可行的,比如实验条件保持不变,实验环境光线不变等。但是作为检测设备而言,环境和条件是多种多样的,这种阀值已经不能在满足需求了。需要一种可以自适应的方式来选择阀值。文章[1]对阀值自动收索做了研究,但是存在计算量大,耗时长的特点,特别是他需要对图像进行阀值扫描,就需要很大的计算机存储空间。文章[2]对阀值的优化和自动选取做了相应的研究和探索,但是他存在如下缺点:
1.对铁磁性材料检测存在不可预估性。由于使用特定的选择参数——偏度值。该值的定义则是需要对黑点像素进行分类统计,由于铁磁性材料磁畴的影响,该值将会计算不准确;
2.由于偏度的计算是和阀值扫描联合在一起,则也是很耗时耗空间的;
3.由于偏度值的计算存在误差,导致优化的阀值结果将不是最优的,会影响缺陷的检测结果。
由于以上各种原因,改进的ANN阀值收索方法得到发展,本发明中的阀值收索方法,不需要对阀值进行遍历,节约计算时间和空间。由于阀值本来是对图像综合评判,根据ANN的局部神经元特性的信息,可以从局部来优化统计结果,减少局部干扰的影响。在计算中,算法是根据图像本身的特点进行阀值寻优,可以很好的在各种实验环境进行工作,避免了检测对象的单一性。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种磁光成像缺陷检测方法的阀值优化方法,通过最佳的阀值来准确地实现缺陷检测。
为实现上述发明目的,本发明一种磁光成像缺陷检测方法的阀值优化方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)、采用磁光成像装置获取试件的磁光图像,并进行灰度化处理得到磁光灰度图;
(2)、对磁光灰度图进行神经元选择处理
(2.1)、设磁光灰度图的有效区域是半径为R的圆,从该圆的圆心按照定步长Δr沿半径方向标记像素点,每条半径标记结束后沿逆时针方向旋转定角度Δθ,再按照相同方法标记下一条半径,直到将整个圆标记完成;其中,设共标记n条半径,标记的第j(j=1,2,…,n)条半径表述为Rj;
(2.2)、以初始半径ro,定步长Δh依次画圆,共画m个圆;其中,Δh=kΔr,k为常数,且满足等式ro+(m-1)Δh=R,标记的第i(i=1,2,…,m)个圆表示为Фi;
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