[发明专利]一种高信噪比的无损检测探头系统

权利要求书

1.一种高信噪比的无损检测探头系统，包括正弦波发生模块、功率放大模块、无损检测电涡流探头、信号调理模块和数据采集处理模块，所述无损检测电涡流探头包括线圈和位于线圈底部的巨磁电阻传感芯片，所述线圈包括激励线圈和位于激励线圈内部的消除线圈，消除线圈与激励线圈为同轴线圈且串联；所述激励线圈的一端连接功率放大模块的输出端，另一端与消除线圈的一端相连，消除线圈的另一端接地，巨磁电阻传感芯片的输出端连接信号调理模块的输入端。

2.根据权利要求1所述的高信噪比的无损检测探头系统，其特征在于，所述激励线圈的匝数为500～1500，消除线圈的匝数为100～300。

3.根据权利要求1所述的高信噪比的无损检测探头系统，其特征在于，所述激励线圈和消除线圈均由直径为0.19～0.45mm的漆包线绕制而成，其线圈骨架为圆柱状。

4.根据权利要求1所述的高信噪比的无损检测探头系统，其特征在于，施加在所述激励线圈和消除线圈两端的交流电频率为500～1500Hz。

5.根据权利要求1所述的高信噪比的无损检测探头系统，其特征在于，所述信号调理模块包括放大电路、滤波电路、锁相放大电路和低通滤波电路；放大电路中放大芯片的第1引脚接滑动变阻器R₃的一端，滑动变阻器R₃的另一端接放大芯片的第8引脚，放大芯片的第2、3引脚分别接探头的差分输出，放大芯片的第7引脚接第一极性电容C₁的正端、第二电容C₂的一端以及正向芯片电源，第一极性电容C₁的负端和第二电容的另一端分别各自接地，放大芯片的第4引脚接第三电容C₃的一端、第四极性电容C₄的负端和负向芯片电源，第三电容C₃的另一端和第四极性电容C₄的正端分别各自接地，放大芯片的第5引脚接第一电阻R₁和第二电阻R₂的一端，第一电阻R₁的另一端接正向芯片电源，第二电阻R₂的另一端接地，放大芯片的第6引脚输出放大信号。

6.根据权利要求5所述的高信噪比的无损检测探头系统，其特征在于，所述锁相放大电路中锁相放大器芯片的第1引脚接上一级滤波电路的输出信号，第3引脚接正弦波发生模块的输出信号，第2、4引脚接地，第5引脚接负向芯片电源和第六电容C₆的一端，第7引脚输出信号，经低通滤波器后连接到数据采集模块的输入端，第8引脚接正向芯片电源和第五电容C₅的一端，锁相放大器芯片的第6引脚、第五电容C₅和第六电容C₆的另一端分别各自接地。