[发明专利]一种样品固定装置及用该装置进行古地磁场强度实验的方法在审
申请号: | 201611044845.6 | 申请日: | 2016-11-24 |
公开(公告)号: | CN106772647A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 程燕君;吴智平;李伟;刘一鸣;王政凯;卢姝男 | 申请(专利权)人: | 程燕君 |
主分类号: | G01V3/40 | 分类号: | G01V3/40 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 266580 山东省青岛市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 样品 固定 装置 进行 地磁场 强度 实验 方法 | ||
技术领域
本发明涉及的是古地磁场强度测试技术领域,具体的说是一种样品固定装置及用该装置进行古地磁场强度实验的方法。
背景技术
古地磁,又称自然剩磁,是指人类史前(地质年代)和史期的地磁场。各地质时代的岩石常有一定的磁性,指示其生成时期的磁极方向。古地磁一般分为两种,即热剩磁和沉积剩磁,岩浆岩中带磁性矿物所表示的磁性,称热剩磁;沉积岩中带磁性物质所表示的磁性,称沉积剩磁。
古强度实验主要是对经过古强度实验炉处理后的样品进行剩磁测量,然后根据测得的剩磁推算出地球磁场古强度。整个实验过程耗时费力。由于受古强度实验炉和样品体积的限制,一次实验只能够处理大概70个样品。而且对于具有高磁化强度的火山岩样品,如果采用标准体积样品,样品的磁矩会超出自动超导磁力仪的量程范围,而通常采用旋转磁力仪进行测量,样品的剩磁测量速度比用自动超导系统测量速度慢,且磁矩测量的方向性准确度较低。总的来说,采用标准体积的样品进行古强度实验效率很低。
现有技术中的古地磁场装置可以采用小样品进行古强度实验,提高工作效率,但是仍然存在装置不牢固,在进行古强度处理时候,容易导致样品架翻倒,影响实验效果的缺陷,而且不适合长期使用,由于压紧装置采用的是螺钉,长期使用后,会发生螺纹磨损,导致装置无法使用。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术的缺陷和不足,提供了一种样品固定装置及用该装置进行古地磁场强度实验的方法,采用该固定装置,可以有效防止在进行古强度实验处理的时候,样品固定支架翻到,影响处理效果,以及后续的测量结果,并且该装置可以重复使用,使用方便,使用寿命长。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种古地磁场强度实验的样品固定装置,它包含实验炉支架、样品固定支架、测量固定支架;所述样品固定支架分别与实验炉支架、测量固定支架配合连接。
优选地,所述的实验炉支架上设置有凹槽口。
优选地,所述的样品固定支架包括固定销、固定销孔、样品孔、卡槽、第一平面、斜面;所述样品固定支架的截面为凸字型,且与实验炉支架上的凹槽过盈配合连接,所述样品固定支架的上端设置有第一平面,所述第一平面的中间设置有固定销孔,所述固定销孔与固定销过盈配合连接,所述样品固定支架的中上端设置有样品孔,所述样品固定支架两侧的中端设置有斜面,所述斜面上设置有卡槽。
优选地,所述的测量固定支架上设置有凹槽,且凹槽与样品固定支架过盈配合连接。
一种古地磁场强度实验的方法:包括以下步骤:
1、样品的取样:先将样品进行方向标记;然后通过钻机进行取样,取样时根据样品固定支架上的样品孔大小,决定样品直径大小。
2、固定样品:将取好的样品进行表面打磨,尽量使样品平整,且放置在样品固定架上的样品孔内,然后将固定销放入固定销孔内,将样品压紧。
3、古强度实验处理:将带样品的样品固定支架放在实验炉支架的凹槽内,且样品固定支架两侧的卡槽与实验炉支架的两侧卡接,对样品进行古强度实验处理。
4、古地磁场强度测量:将经过古强度实验处理的带样品的样品固定支架放入测量固定支架的凹槽中,通过测量仪器进行剩磁测量。
本发明的有益效果为:采用该固定装置,可以有效防止在进行古强度实验处理的时候,样品固定支架翻到,影响处理效果、以及后续的测量结果,并且该装置可以重复使用,使用方便,使用寿命长。
附图说明
图1是本发明的样品固定支架与实验炉支架连接的结构示意图;
图2是本发明的样品固定支架的左侧视图;
图3是本发明的测量固定支架的主视图;
图4是本发明的测量固定支架的俯视图;
图中1.实验炉支架、2.样品固定支架、3.固定销、4.固定销孔、5.样品孔、6.卡槽、7.凹槽、8.测量固定支架、9.第一平面、10.斜面。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施方式,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
参看图1至图4,本具体实施方式采用以下技术方案:
一种古地磁场强度实验的样品固定装置,它包含实验炉支架1、样品固定支架2、测量固定支架8;所述样品固定支架2分别与实验炉支架1、测量固定支架8配合连接。
所述的实验炉支架1上设置有凹槽口,便于与样品固定支架2连接。
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