[发明专利]集成电路旋转换向装置及旋转换向方法有效
申请号: | 201611048318.2 | 申请日: | 2016-11-24 |
公开(公告)号: | CN106608519B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 张新;舒星星;韩笑 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | B65G47/248 | 分类号: | B65G47/248 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 310000 浙江省杭州市滨江区江淑*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 旋转 换向 装置 方法 | ||
本发明涉及集成电路分选领域,目的是提供一种集成电路旋转换向装置及旋转换向方法。一种集成电路旋转换向装置,包括:设有入料通道的入料轨道,设有出料通道的出料轨道,旋转换向机构,设有原点检测组件的旋转驱动机构;旋转换向机构包括:设有两个端板、底座和顶板的机座,与端板枢接的转轴,上端设有圆弧面且下端与底座连接的下挡料块,下端设有圆弧面且上端与顶板连接的上挡料块,与转轴连接的换向块;入料轨道的一端位于下挡料块一端和上挡料块一端之间;出料轨道的一端位于下挡料块另一端和上挡料块另一端之间;换向块的相对两端各设有一个容置沉孔。该集成电路旋转换向装置换向精度较高且集成电路不易产生损伤。
技术领域
本发明涉及集成电路分选领域,尤其是一种集成电路旋转换向装置及旋转换向方法。
背景技术
集成电路分选机是用于对集成电路产品进行性能测试的设备;集成电路测试时管脚朝上,为了实现集成电路测试后进行编带,需要对集成电路翻面,使管脚朝下;目前的换向机构存在换向精度较低且集成电路易产生损伤的不足;因此,设计一种换向精度较高且集成电路不易产生损伤的集成电路旋转换向装置及旋转换向方法,成为亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的是为了克服目前的换向机构存在换向精度较低且集成电路易产生损伤的不足,提供一种换向精度较高且集成电路不易产生损伤的集成电路旋转换向装置及旋转换向方法。
本发明的具体技术方案是:
一种集成电路旋转换向装置,包括:设有入料通道的入料轨道,设有出料通道的出料轨道;所述的集成电路旋转换向装置还包括:旋转换向机构,设有原点检测组件的旋转驱动机构;旋转换向机构包括:设有两个端板、底座和顶板的机座,与端板枢接的转轴,上端设有与转轴同轴的圆弧面且下端与底座连接的下挡料块,下端设有与转轴同轴的圆弧面且上端与顶板连接的上挡料块,与转轴连接的换向块;入料轨道的一端位于下挡料块一端和上挡料块一端之间;出料轨道的一端位于下挡料块另一端和上挡料块另一端之间;换向块的相对两端各设有一个容置沉孔;初始状态时,入料通道与一个容置沉孔相对;出料通道与另一个容置沉孔相对。所述的集成电路旋转换向装置由控制器控制,原点检测组件和旋转驱动机构分别与控制器通信连接;集成电路旋转换向装置使用时,底座斜装,入料通道的出口端高于出料通道的进口端;旋转驱动机构经转轴带动换向块转动,原点检测组件检测确定换向块的位置原点;在重力作用下,第一个集成电路从入料通道落入一个容置沉孔中;旋转驱动机构经转轴带动换向块转动,圆弧面挡住集成电路不从容置沉孔中脱出;当第一个集成电路转动到与出料通道相对时,第一个集成电路落入出料通道中完成旋转换向,第二个集成电路从入料通道落入另一个容置沉孔中。该集成电路旋转换向装置换向精度较高且集成电路不易产生损伤。
作为优选,所述的旋转驱动机构包括:与底座连接的双出轴伺服电机,与双出轴伺服电机的输出前轴连接的联轴器;联轴器的另一端与转轴的一端连接;原点检测组件包括:与双出轴伺服电机的输出后轴连接的原点检测盘,与机座连接的原点检测传感器;原点检测盘侧围设有分别与原点检测盘两端贯通的原点检测槽。旋转驱动机构和原点检测组件结构简单且精度高。
作为优选,所述的旋转驱动机构还包括罩住双出轴伺服电机、原点检测盘和原点检测传感器的防护罩;防护罩与底座上端连接。防护罩防护双出轴伺服电机、原点检测盘和原点检测传感器不受损伤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州长川科技股份有限公司,未经杭州长川科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611048318.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种轮胎阻挡对中机构
- 下一篇:一种交叉带分拣机主线驱动机构