[发明专利]一种检测驱动电路的方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示领域，特别涉及一种检测驱动电路的方法。

背景技术

AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)屏包括阵列基板等部件。其中阵列基板包括多个像素单元，每个像素单元对应一个驱动电路。该驱动电路用于驱动其对应的像素单元发光。

在生产阵列基板时，可以在玻璃基板上通过构图工艺生成驱动电路，以及在该玻璃基板上继续通过构图工艺生成该驱动电路对应的像素单元和生成该阵列基板包括的其他部分，该其他部分可以为滤光层、黑矩阵等部件。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

生成驱动电路的工艺难度较大，导致有时生成的驱动电路存在异常，在有异常的驱动电路基础上继续生成该阵列基板的其他部分，容易出现产品不良，使得生产成本较高。

发明内容

为了降低生产成本，本发明提供了一种检测驱动电路的方法。所述技术方案如下：

本发明提供了一种检测驱动电路的方法，所述方法包括：

向驱动电路的数据输入端、栅极扫描输入端、电源端和感测电压端分别输入数据信号、栅线扫描信号、电压信号和第一电平的第一控制信号；

通过向所述驱动电路的感测扫描输入端输入第二电平的第二控制信号，控制所述驱动电路的像素存储电容充电，并测量所述驱动电路的有机发光二极管OLED阳极端的第一电压；

通过向所述感测扫描输入端输入第三电平的第二控制信号，控制所述像素存储电容放电，并测量所述驱动电路的OLED阳极端的第二电压；

根据所述第一电压和所述第二电压，确定所述驱动电路是否存在异常。

可选的，所述通过向所述驱动电路的感测扫描输入端输入第二电平的第二控制信号，控制所述驱动电路的像素存储电容充电，包括：

通过向所述驱动电路的感测扫描输入端输入第二电平的第二控制信号，控制所述像素存储电容与所述感测电压端连通，使所述像素存储电容充电。

可选的，所述通过向所述感测扫描输入端输入第三电平的第二控制信号，控制所述像素存储电容放电，包括：

通过向所述感测扫描输入端输入第三电平的第二控制信号，控制所述像素存储电容与所述感测电压端断开，以使所述像素存储电容放电。

可选的，在充电阶段内控制所述像素存储电容充电，以及在放电阶段内控制所述像素存储电容放电，所述充电阶段和所述放电阶段是连续的两个时间段且所述充电阶段位于所述放电阶段之前。

可选的，所述充电阶段的时长大于所述放电阶段的时长。

可选的，所述向驱动电路的感测电压端输入第一电平的第一控制信号，包括：

在所述充电阶段和所述放电阶段内向所述驱动电路的感测电压端输入第一电平的第一控制信号；或者，

在所述充电阶段内向所述驱动电路的感测电压端输入第一电平的第一控制信号。

可选的，所述第一电平和所述第二电平均大于所述第三电平。

可选的，所述第一电平小于所述第二电平。

可选的，所述根据所述第一电压和所述第二电压，确定所述驱动电路是否存在异常，包括：

计算所述第一电压和所述第二电压之间的电压差；

如果所述电压差位于预设数值范围内，则确定所述驱动电路不存在异常，否则，确定所述驱动电路存在异常。

可选的，所述向驱动电路的栅极扫描输入端输入栅线扫描信号，包括：

通过向所述驱动电路的栅极扫描输入端输入栅线扫描信号，控制所述像素存储电容与所述数据输入端连通，以及断开所述电源端与所述OLED阳极端之间的连接。

可选的，所述数据信号的电压值小于所述栅线扫描信号的电压值。

可选的，所述电压信号的电压值大于或等于0且小于或等于15伏。

本发明提供的技术方案的有益效果是：

通过控制像素存储电容Cst充电时测量OLED阳极端ITO的第一电压V1，以及控制像素存储电容Cst放电时测量OLED阳极端ITO的第二电压V2，然后根据第一电压V1和第二电压V2确定像素存储电容Cst是否异常，如果存在异常，就中止继续生产该驱动电路对应的像素单元等部件，减少生成成本。

附图说明

图1-1是本发明实施例一提供的一种驱动电路的结构示意图；

图1-2是本发明实施例一提供的一种像素存储电容的结构示意图；

图2-1是本发明实施例二提供的一种时序信号图；