[发明专利]一种数字芯片接收ADC输出数据的方法及数字芯片在审
申请号: | 201611051132.2 | 申请日: | 2016-11-24 |
公开(公告)号: | CN106656182A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 李振军;王永添;郑文明 | 申请(专利权)人: | 深圳市鼎阳科技有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;H03M1/12;G06F15/78;G06F13/40 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人: | 郭燕 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数字 芯片 接收 adc 输出 数据 方法 | ||
1.一种数字芯片接收ADC输出数据的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
数字芯片内预先存储N个相位系数,每一个相位系数对应一个相位;所述N个相位系数用于供数字芯片配置给数字芯片内的锁相环,以使得锁相环根据来自于ADC输出的随路时钟Synclk来产生的采样接收时钟Iclk的相位为被配给锁相环的相位系数对应的相位,其中N为大于1的整数;
在接收由ADC输出的待采集数据之前,查找用于在当前环境下接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的最佳相位,并把该最佳相位对应的相位系数配置给锁相环,以产生具有最佳相位的采样接收时钟Iclk;
根据所述具有最佳相位的采样接收时钟Iclk来接收ADC输出的待采集数据。
2.如权利要求1所述的数字芯片接收ADC输出数据的方法,其特征在于,所述N个相位系数分别对应N个等分的相位。
3.如权利要求1所述的数字芯片接收ADC输出数据的方法,其特征在于,查找用于接收当前待采集数据的采样接收时钟Iclk的最佳相位,包括:
在接收由ADC输出的待采集数据之前,通知ADC发送测试数据并接收;
数字芯片从所述N个相位系数对应的最小相位开始,依次调整锁相环输出的采样接收时钟Iclk的相位,找出当前环境下能够正确接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的所有相位,并根据这些相位选择出采样接收时钟Iclk的最佳相位。
4.如权利要求3所述的数字芯片接收ADC输出数据的方法,其特征在于,选择所述当前环境下能够正确接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的所有相位中最中间的一个相位作为所述最佳相位。
5.如权利要求3或4任一项所述的数字芯片接收ADC输出数据的方法,其特征在于,数字芯片从所述N个相位系数对应的最小相位开始,依次调整锁相环输出的采样接收时钟Iclk的相位,找出当前环境下能够正确接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的所有相位,包括:
第一步:数字芯片将最小相位对应的相位系数配置给锁相环,以产生具有对应相位的采样接收时钟Iclk;
第二步:当锁相环的时钟锁定之后,检测接收到的ADC测试数据是否存在误码;
第三步:当检测结果为不存在误码时,则将当前配置给锁相环的相位系数对应的相位标记为当前环境下能够正确接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的相位;
第四步:判断当前配置给锁相环的相位系数是否为最后一个相位系数,如果不是,则将下一个相位系数配置给锁相环,以产生具有对应相位的采样接收时钟Iclk,并重新从第二步开始往下进行;如果是,则关闭ADC测试数据。
6.一种接收ADC输出数据的数字芯片,其特征在于,包括:
锁相环,用于根据来自于ADC输出的随路时钟Synclk产生采样接收时钟Iclk;
存储模块,用于预先存储N个相位系数,每一个相位系数对应一个相位,其中N为大于1的整数;
锁相环配置模块,用于将所述N个相位系数配置给所述锁相环,以使得锁相环根据来自于ADC输出的随路时钟Synclk来产生的采样接收时钟Iclk的相位为被配给锁相环的相位系数对应的相位;
最佳相位确定模块,用于在数字芯片接收由ADC输出的待采集数据之前,查找用于在当前环境下接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的最佳相位,并通知锁相环配置模块把该最佳相位对应的相位系数配置给锁相环,以产生具有最佳相位的采样接收时钟Iclk;
数据接收器,用于根据所述具有最佳相位的采样接收时钟Iclk来接收ADC输出的待采集数据。
7.如权利要求6所述的接收ADC输出数据的数字芯片,其特征在于,所述存储模块存储的N个相位系数分别对应N个等分的相位。
8.如权利要求6所述的接收ADC输出数据的数字芯片,其特征在于,所述最佳相位确定模块包括:
开始模块,在数据接收器接收由ADC输出的待采集数据之前,通知ADC发送测试数据以使得数据接收器接收测试数据;
查找模块,用于通知锁相环配置模块从所述N个相位系数对应的最小相位开始,依次将这N个相位系数配置给锁相环以依次输出具有对应相位的采样接收时钟Iclk,以找出当前环境下能够正确接收ADC数据的采样接收时钟Iclk的所有相位,并根据这些相位选择出采样接收时钟Iclk的最佳相位。
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