[发明专利]一种RIE制绒的黑硅电池的制备方法有效
申请号: | 201611067874.4 | 申请日: | 2016-11-29 |
公开(公告)号: | CN108123009B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 |
发明(设计)人: | 李化阳;张良;李良;王霞;姚玉;任海兵 | 申请(专利权)人: | 镇江大全太阳能有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
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地址: | 212211 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 rie 电池 制备 方法 | ||
本发明涉及一种RIE制绒的黑硅电池的制备方法,包括如下步骤:步骤S1,去除黑硅片的正表面损伤层,以及对黑硅片的背面进行抛光处理;步骤S2,对所述黑硅片的表面进行磷源扩散,制备PN结;步骤S3,对所述黑硅片进行清洗、RIE制绒,在黑硅片的正表面形成纳米绒面;步骤S4,对所述黑硅片的纳米绒面进行修复,以去除纳米绒面形成过程中的损失层;步骤S5,对所述黑硅片的正表面积淀上减反射膜;步骤S6,对所述黑硅片的背面分别印刷背银、铝浆后烘干,然后在其正表面印刷正银后烧结,即可得到黑硅电池。
技术领域
本发明属于太阳能电池技术领域,尤其涉及一种RIE制绒的黑硅电池的制备方法。
背景技术
现有技术中黑硅电池的制备流程是先进行酸制绒,RIE制绒,经过绒面修复后再进行PN结扩散,然后后清洗去除磷硅玻璃层(PSG)和边缘刻蚀,PECVD积淀减反射膜,丝网印刷和烧结工艺完成黑硅电池的制备,如图1所示。
采用上述的工艺流程,再经过RIE制绒后,黑硅片表面会形成深度为200~500nm左右小绒面,而此深度与目前的扩散PN结深相当。在这种绒面形貌的情况下,会对PN结的扩散深度产生影响,而酸制绒工艺也会引起硅片表面形貌起伏不平,进一步加重了PN结的不均匀性,同时也会导致局部的扩散浓度随绒面起伏而有变化,增加了光生载流子的表面复合速率,从而影响电池片的性能。
现有技术中的工艺(例如专利CN201510003710.4和CN201520004215.0)虽然也提到了背面抛光技术,改善了扩散前硅片表面的平整性,从而提升黑硅电池的性能,但是这些工艺仍然使用的是现有常用的工艺流程,仍然没有考虑到绒面尺寸对扩散均匀性的影响,因此,电池效率提升幅度有限。
发明内容
本发明的目的是提供一种RIE制绒的黑硅电池的制备方法,已解决提高PN结的均匀性,提高电池片转换效率的技术问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种RIE制绒的黑硅电池的制备方法,包括如下步骤:步骤S1,去除黑硅片的正表面损伤层,以及对黑硅片的背面进行抛光处理;步骤S2,对所述黑硅片的表面进行磷源扩散,制备PN结;步骤S3,对所述黑硅片进行清洗、RIE制绒,在黑硅片的正表面形成纳米绒面;步骤S4,对所述黑硅片的纳米绒面进行修复,以去除纳米绒面形成过程中的损失层;步骤S5,对所述黑硅片的正表面积淀上减反射膜;步骤S6,对所述黑硅片的背面分别印刷背银、铝浆后烘干,然后在其正表面印刷正银后烧结,即可得到黑硅电池。
进一步可选的,所述步骤S3中采用湿法清洗方法,使用成分为HF:HNO3:H2SO4:H2O=1:8:10:5的混酸对黑硅片的背面和侧面进行刻蚀,以实现对步骤S2中因磷源扩散造成的黑硅片侧面和背面的PN结的刻蚀,再使用5%浓度的HF去除黑硅片的正表面的磷硅玻璃层,后烘干。
进一步可选的,所述步骤S3中采用干法清洗方法,使用成分为CF4和H2组成的混合气体等离子体对黑硅片的侧面进行刻蚀,以实现对步骤S2中因磷源扩散造成的黑硅片侧面的PN结的刻蚀。
进一步,所述步骤S3中RIE制绒是采用SF6/O2/Cl2混合气体等离子体对所述黑硅片的正表面进行反应离子刻蚀;刻蚀时间为5 ~ 10min,在黑硅片的正表面形成纳米绒面的微结构大小为200 ~ 500nm,反射率为5 ~ 15%。
进一步,所述步骤S1中采用混酸处理法或碱处理法去除黑硅片的正表面的损伤层,以及对黑硅片的背面进行抛光处理;其中混酸处理法采用成分为HF/HNO3/H2O的混酸;碱处理法采用KOH溶液。
进一步,所述步骤S2中扩散温度为760 ~ 850℃,扩散方阻为70 ~ 90Ω/□。
进一步,所述步骤S4中采用成分为BOE/H2O2/H2O的混合药液去除损失层;然后使用成分为HF/HCl/H2O的混酸对黑硅片的表面进行清洗,以去除黑硅片表面的氧化层或金属杂质。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的