[发明专利]一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置

权利要求书

1.一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，包括发射探针、接收探针、蓄电池、DC/15电源模块JP1、DC/15电源模块JP2、DC/15电源模块JP3、DC/15电源模块JP4、DC/15电源模块JP5、DC/15电源模块JP7、VSM025A升压模块U2和Atmage8单片机U7；其特征在于所述蓄电池的正极BAT+端分别与JP1的正极输入端、JP2的正极输入端、JP3的正极输入端、JP4的正极输入端、JP5的正极输入端、JP7的正极输入端相连；蓄电池的负极BAT-端分别与JP1的负极输入端、JP2的负极输入端、JP3的负极输入端、JP4的负极输入端、JP5的负极输入端、JP7的负极输入端相连；

蓄电池的负极BAT-端通过电容C1分别与JP1的CAP端、JP2的CAP端、JP3的CAP端、JP4的CAP端、JP5的CAP端、JP7的CAP端相连；JP1的-Vo端与JP2的+Vo端相连，JP3的-Vo端接GND1端，JP3的+Vo端接15V_1端，JP4的-Vo端接JP5的+Vo端，JP4的+Vo接+15V_2端，JP5的-Vo端接-15V_2端，JP7的-Vo端接GND3端，JP7的+Vo端接15V_3端；

所述BAT+端分别与电阻R1一端、电阻R2一端、电阻R3一端、电阻R4一端、电阻R8一端相连，电阻R1另一端、电阻R2另一端、电阻R3另一端、电阻R4另一端、电阻R8另一端分别与U2的2脚相连，U2的3脚接-15V端，U2的4脚接+15V端，U2的5脚分别与BATV端、电阻R13一端相连，R13另一端接GND端；

所述BATV端通过电阻R15与TLP250芯片的2脚相连，TLP250芯片的6、7脚通过电阻R17分别与PNP三极管Q2基极、NPN三极管Q4基极相连，Q2集电极接-15V端，Q4集电极接+15V端，Q2发射极分别与电阻R18一端、Q4发射极相连，R18另一端分别与JFET-P管Q6的B极、JFET-P管Q7的B极相连，Q6的G极、Q7的G极接GND端，Q6的C极、Q7的C极接发射探针J6；

接收探针通过电阻R20分别与PNP三极管Q3发射极、NPN三极管Q5发射极相连，Q5集电极接+15V_2端，Q3集电极接-15V_2端；Q3基极、Q5基极接电阻R19一端，R19另一端接TLP250芯片U5的6、7脚，U5的2脚通过电阻R16接U7的15脚。

2.根据权利要求1所述一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，其特征在于还包括VSM025A升压模块U3和备用电源，U3的2脚分别与电阻R9一端、电阻R10一端、电阻R11一端、电阻R12一端相连，电阻R9另一端、电阻R10另一端、电阻R11另一端、电阻R12另一端接备用电源的正极SUN+端，U3的1脚接备用电源的正极SUN-端，U3的3脚接-15V端，U3的4脚接+15V端，U3的5脚分别与电阻R14 一端、SUNV端相连，R14 另一端接GND；单片机检测BATV端电压输出异常时，通过开关电路接SUNV端与R15相连。

3.根据权利要求1所述一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，其特征在于检测时，发射探针对着被测电缆的检测输入端，发射探针与被测电缆的检测输入端的间距为1～2米；接收探针对着被测电缆的检测接收端，接收探针与被测电缆的检测接收端的间距为1～2米。

4.根据权利要求1所述一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，其特征在于将接收探针获得的高能电子衍射谱的轨迹和“故障轨迹”进行叠加，两个轨迹将有一个清楚的发散点；这个发散点就是故障点的反射波形点。

5.根据权利要求1所述一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，其特征在于所述U7的26脚分别与电阻R23一端、电阻R24一端相连，R23另一端接BATV端，R24另一端接GND端。

6.根据权利要求1所述一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，其特征在于所述U7的15脚通过电阻R5分别与电阻R6一端、二极管D1阴极、电容C6一端、U7的27脚相连，电阻R6另一端、二极管D1阳极、电容C6另一端接GND端。

7.根据权利要求1所述一种反射电子衍射技术对高压电缆的无损检测装置，其特征在于所述U7分别与复位芯片MAX809 U1、基准电源芯片 U8相连， U7、U1、U8构成反馈计算单元；反馈信号经过采样电路后，通过PWM1管脚进入单片机，单片机计算电压的差异，如果电缆有损伤，那么探针两端的电压差值必定不为0V；把这个差值结算出来后通过连接插座JP6上的管脚发送给显示屏或者上位机电脑，后者会显示不同光谱，以判断不同的故障情况。