[发明专利]挑选测试用屏方法及装置

权利要求书

1.一种挑选测试用屏方法，其特征在于，所述挑选测试用屏方法包括以下步骤：

获取所有类型待测试屏的性能参数，将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合，将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合；

获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数；

获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值；

根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏，其中所述比值越大，挑选优先级越高；

其中，所述根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏的步骤之后包括：

控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数；

判断去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中是否至少包含一个性能参数；

若是，则执行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的步骤，直到参数总集合不包括任何性能参数。

2.如权利要求1所述的挑选测试用屏方法，其特征在于，所述根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏，其中所述比值越大，挑选优先级越高的步骤包括：

比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系，确定最大比值；

根据所述最大比值，确定与所述最大比值对应的参数子集合；

根据所述参数子集合，挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。

3.如权利要求1-2任一项所述的挑选测试用屏方法，其特征在于，所述获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数的步骤包括：

获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量；

获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。

4.如权利要求1-2任一项所述的挑选测试用屏方法，其特征在于，所述获取所有类型待测试屏的性能参数，将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合，将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合的步骤包括：

确定所有类型待测试屏的型号；

获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数；

将每种类型待测试屏的性能参数组成集合，并将此集合作为参数子集合；

控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数，组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合，并将此集合作为参数总集合。

5.一种挑选测试用屏装置，其特征在于，所述挑选测试用屏装置包括：

第一获取模块，用于获取所有类型待测试屏的性能参数，将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合，将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合；

第二获取模块，用于获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数；

第三获取模块，用于获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值；

挑选模块，用于根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏，其中所述比值越大，挑选优先级越高；

其中，所述挑选测试用屏装置还包括：

剔除模块，用于控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数；

判断模块，用于判断去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中是否至少包含一个性能参数；

在判断模块判断出去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中至少包含一个性能参数时，所述第三获取模块获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值，直到参数总集合不包括任何性能参数。