[发明专利]基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置及方法

权利要求书

1.一种基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置，用于测量样品池中纳米管的直径和长度，其特征在于，包括：

光束聚焦单元，用于将光束聚焦成一点，包括用于发射光束的光源以及用于将所述光源发射出的光束进行聚焦的透镜，聚焦后的所述光束照射在所述纳米管上而产生散射光；

拉曼散射单元，包括用于滤除所述散射光中的杂光而得到拉曼散射光的滤光元件以及用于将所述拉曼散射光的光信号转换为电脉冲信号的第一光电转换元件；

退偏振动态散射单元，包括用于将所述散射光分解为水平方向和垂直方向的分光棱镜、用于将垂直方向的所述散射光的光信号转换为电脉冲信号的第二光电转换元件以及用于将水平方向的所述散射光的光信号转换为电脉冲信号的第三光电转换元件；以及

信息分析处理单元，与所述第一光电转换元件、第二光电转换元件以及第三光电转换元件连接，包括用于对所述电脉冲信号进行计数得到计数值的光子计数卡以及与所述光子计数卡连接并将所述计数值处理分析得到所述纳米管的直径和长度的计算机。

2.根据权利要求1所述的基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置，其特征在于，还包括：

两对小孔板，分别设置在所述样品池的两侧，每对所述小孔板具有两块平行设置的所述小孔板。

3.根据权利要求2所述的基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置，其特征在于：

其中，每对所述小孔板上具有正对的小孔，该小孔用于让所述散射光通过。

4.根据权利要求1所述的基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置，其特征在于：

其中，所述分光棱镜为渥拉斯顿棱镜。

5.根据权利要求1所述的基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置，其特征在于：

其中，所述光源为半导体激光光源。

6.根据权利要求1所述的基于光子计数的纳米管几何尺寸测量装置，其特征在于：

其中，所述第一光电转换元件、所述第二光电转换元件以及所述第三光电转换元件均为光电倍增管。