[发明专利]一种用于ESD保护的双向SCR结构在审

专利信息
申请号: 201611077362.6 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106783942A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 蔡小五;魏俊秀;高哲;梁超;刘兴辉;翟丽蓉;吕川;闫明 申请(专利权)人: 辽宁大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/861
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司21207 代理人: 郑贤明
地址: 110000 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 esd 保护 双向 scr 结构
【权利要求书】:

1.一种用于ESD保护的双向SCR结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:在P型衬底(1)中间上部设有DNW阱(2);

所述的DNW阱(2)里形成PWell阱(3)和NWell阱(4),PWell阱(3)上设有第一P+注入区(5)和第一N+注入区(6);

所述的P型衬底(1)的一侧上部设有第二P+注入区(7)和第二N+注入区(8),另一侧上部设有第三P+注入区(9)和第三N+注入区(10)。

2.根据权利要求1所述的一种用于ESD保护的双向SCR结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:从所述的第一P+注入区(5)依次到PWell阱(3)、DNW阱(2)、P型衬底(1),第二N+注入区(8)和第三N+注入区(10),构成正向ESD电流释放路径SCR1;从所述的第二P+注入区(7)和第三P+注入区(9)依次到P型衬底(1)、DNW阱(2)PWell阱(3),第一N+注入区(6),构成反向ESD电流释放路径SCR2。

3.根据权利要求2所述的一种用于ESD保护的双向SCR结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:所述的从第一P+注入区(5)依次到PWell阱(3)、DNW阱(2)、P型衬底(1),第二N+注入区(8)的通路长度等于从第一P+注入区(5)依次到PWell阱(3)、DNW阱(2)、P型衬底(1),第三N+注入区(10)的通路长度。

4.根据权利要求2所述的一种用于ESD保护的双向SCR结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:所述的从第二P+注入区(7)依次到P型衬底(1)、DNW阱(2)PWell阱(3),第一N+注入区(6)的通路长度等于从第三P+注入区(9)依次到P型衬底(1)、DNW阱(2)PWell阱(3),第一N+注入区(6)的通路长度。

5.根据权利要求1所述的一种用于ESD保护的双向SCR结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:所述的第一P+注入区(5)和第一N+注入区(6)形成T1端口;第二P+注入区(7)和第二N+注入区(8),第三P+注入区(9)和第三N+注入区(10)形成T2端口,T1端口设置在中间,T2端口分别设置在两边,为对称性结构。

6.根据权利要求1所述的一种用于ESD保护的双向SCR结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:所述的DNW阱(2)里中间形成PWell阱(3),PWell阱(3)的外侧形成NWell阱(4)。

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