[发明专利]一种光感传感器校准方法及终端在审

专利信息
申请号: 201611080856.X 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106802183A 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 刘永锋 申请(专利权)人: 努比亚技术有限公司
主分类号: G01J1/10 分类号: G01J1/10;G01J1/16
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 代理人: 韩辉峰,李丹
地址: 518000 广东省深圳市南山区高新区北环大道9018*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 传感器 校准 方法 终端
【权利要求书】:

1.一种终端,其特征在于,包括:

测量模块,用于获取所述终端的光感传感器对预设光照环境检测所得的第一光照强度,获取光照计对同一预设光照环境检测所得的第二光照强度;

处理模块,用于获取所述第一光照强度和第二光照强度的差值;

校准模块,用于根据所述差值对所述光感传感器进行校准。

2.如权利要求1所述的终端,其特征在于,

所述测量模块获取所述终端的光感传感器对预设光照环境检测所得的第一光照强度,获取光照计对同一预设光照环境检测所得的第二光照强度包括:

所述测量模块获取n组第一光照强度和第二光照强度,其中,所述光感传感器和所述光照计对同一预设光照环境检测所得的所述第一光照强度和第二光照强度为一组,且不同组的预设光照环境的光照强度不同;

所述处理模块获取所述第一光照强度和第二光照强度的差值包括:

所述处理模块获取每组内第一光照强度和第二光照强度的差值,获得n组差值。

3.如权利要求2所述的终端,其特征在于,所述校准模块根据所述差值对所述光感传感器进行校准包括:

将所述n组差值进行拟合,建立第一光照强度和差值的校准曲线;

基于所述校准曲线对所述光感传感器进行校准。

4.如权利要求2所述的终端,其特征在于,所述测量模块用于根据如下方式获取每组第一光照强度和第二光照强度:

获取所述光感传感器对一预设光照环境进行m次检测所得的m个第一光照强度,获取所述光照计对同一预设光照环境进行m次检测所得的m个第二光照强度,将该m个第一光照强度取平均值作为光感传感器对该预设光照环境检测所得的第一光照强度,将该m个第二光照强度取平均值作为所述光照计对该预设光照环境检测所得的第二光照强度。

5.如权利要求1至4任一所述的终端,其特征在于,所述测量模块获取所述终端的光感传感器对预设光照环境检测所得的第一光照强度,获取光照计对同一预设光照环境检测所得的第二光照强度包括:

获取所述光感传感器对一光箱检测所得的第一光照强度,获取所述光照计对同一光箱同一位置检测所得的第二光照强度,所述光箱具有预设光照强度。

6.一种光感传感器校准方法,其特征在于,包括:

获取终端的光感传感器对预设光照环境检测所得的第一光照强度,获取光照计对同一预设光照环境检测所得的第二光照强度;

获取所述第一光照强度和第二光照强度的差值;

根据所述差值对所述光感传感器进行校准。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述获取终端的光感传感器对预设光照环境检测所得的第一光照强度,获取光照计对同一预设光照环境检测所得的第二光照强度包括:

获取n组第一光照强度和第二光照强度,其中,所述光感传感器和所述光照计对同一预设光照环境检测所得的所述第一光照强度和第二光照强度为一组,且不同组的预设光照环境的光照强度不同;

所述获取所述第一光照强度和第二光照强度的差值包括:

获取每组内第一光照强度和第二光照强度的差值,获得n组差值。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据所述差值对所述光感传感器进行校准包括:

将所述n组差值进行拟合,建立第一光照强度和差值的校准曲线;

基于所述校准曲线对所述光感传感器进行校准。

9.如权利要求7所述的方法,其特征在于,获取所述n组第一光照强度和第二光照强度时,根据如下方式获取每组第一光照强度和第二光照强度:

获取所述光感传感器对一预设光照环境进行m次检测所得的m个第一光照强度,获取所述光照计对同一预设光照环境进行m次检测所得的m个第二光照强度,将该m个第一光照强度取平均值作为光感传感器对该预设光照环境检测所得的第一光照强度,将该m个第二光照强度取平均值作为所述光照计对该预设光照环境检测所得的第二光照强度。

10.如权利要求6至9任一所述的方法,其特征在于,所述获取终端的光感传感器对预设光照环境检测所得的第一光照强度,获取光照计对同一预设光照环境检测所得的第二光照强度包括:

获取所述光感传感器对一光箱检测所得的第一光照强度,获取所述光照计对同一光箱同一位置检测所得的第二光照强度,所述光箱具有预设光照强度。

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