[发明专利]一种金刚石热沉GaN基异侧电极LED制作方法有效

专利信息
申请号: 201611081848.7 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106784276B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 王进军 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: H01L33/64 分类号: H01L33/64;H01L33/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710021 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 金刚石 gan 基异侧 电极 led 制作方法
【权利要求书】:

1.一种金刚石热沉GaN基异侧电极LED制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:在蓝宝石衬底上MOCVD生长GaN基LED外延材料;

S11:分别用丙酮和去离子水各超声2~3分钟对所述蓝宝石衬底进行清洗;

S12:将所述蓝宝石衬底在900~1000℃的H2气氛下进行烘烤;

S13:以三甲基镓和氨气分别作为Ga源和N源,N2和H2作为载气,在530~580℃下采用MOCVD技术在蓝宝石衬底上低温生长50nm的GaN成核层;

S14:以SiH4为n型掺杂剂,三甲基镓TMGa和氨气NH3为Ga源和N源MOCVD生长n-GaN层,掺杂浓度2×1017~1×1018cm-3

S15:以三甲基镓TMGa,三甲基铟TMIn和氨气NH3分别作为Ga源、In源和N源,N2和H2作为载气MOCVD交替生长GaN/InGaN多量子阱;

S16:以CP2Mg为p型掺杂剂,三甲基镓TMGa和氨气NH3为Ga源和N源MOCVD生长p-GaN层,掺杂浓度5×1016~2×1017cm-3,850℃退火;

S17:最后PECVD淀积SiO2,厚度1.5μm;

S2:ICP刻蚀步骤S1所述蓝宝石衬底GaN基LED外延材料,进行器件隔离;

S21:SiO2光刻、刻蚀,形成隔离刻蚀掩膜图样,单元大小为1mm×1mm;

S22:隔离槽ICP干法刻蚀,刻蚀气体采用He:Cl2:BCl3=10:45:15sccm的混合气体;

S23:PECVD淀积SiO2侧墙;

S3:对步骤S2所述蓝宝石衬底GaN基LED外延材料表面磁控溅射p型接触金属、反射金属和键合金属;

分别用三氯化碳、四氯乙烯、丙酮、乙醇、去离子水超声清洗所述蓝宝石衬底GaN基LED外延材料各2~3分钟,氮气吹干,再在p-GaN表面依次磁控溅射Ni/Au/Al/Ag,厚度依次为50nm/120nm/0.3μm/1μm,850~900℃退火15min;

S4:对金刚石热沉衬底表面磁控溅射键合金属;

先对所述金刚石热沉衬底表面进行抛光、平整化处理;

再用丙酮、乙醇、去离子水超声清洗所述金刚石,抛光面磁控溅射Au键合金属,厚度2μm;

S5:将步骤S3所述蓝宝石衬底GaN基LED外延材料和步骤S4所述金刚石热沉衬底进行金属键合;

键合时间30min,键合温度250~300℃,施加压力300N,键合所述金刚石热沉衬底与所述宝石衬底GaN基LED外延材料;

S6:采用激光剥离技术对步骤S5所述蓝宝石衬底进行剥离;

S7:对步骤S6所述蓝宝石衬底进行磁控溅射n型接触金属;

S71:用KOH:乙二醇=5:3溶液移除GaN缓冲层,漏出n-GaN层;

S72:所述n-GaN层表面PECVD淀积SiO2,厚度1.5μm;

S73:对所述SiO2光刻、刻蚀,形成n型电极图样;

S74:依次磁控溅射Cr/Au型电极金属,厚度依次为50nm/300nm,保持550℃退火30min;

S75:最后划片封装。

2.根据权利要求1所述的一种金刚石热沉GaN基异侧电极LED制作方法,其特征在于,所述金刚石热沉衬底为多晶金刚石,厚度0.3mm,表面键合金属依次为Au;蓝宝石衬底GaN基LED,外延材料p-GaN层表面金属依次为Ni/Au/Al/Ag,其中Ni/Au作p型电极,Al作底面反射镜,Ag为键合金属。

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