[发明专利]一种吸波材料反射测量装置和方法

权利要求书

1.一种吸波材料反射测量装置，其特征在于，包括发射天线、接收天线、拱形架、时域脉冲发生器、时域脉冲接收机、良导体板、吸波材料板、计算机；

所述拱形架的拱形围绕所述良导体板的中心、拱形所在平面和所述良导体板平面垂直；

所述接收天线和所述发射天线对称地放置于拱形架上，所述发射天线和接收天线在所述拱形架上的位置可调；

所述发射天线口面法线方向可调；所述接收天线口面法线方向可调；

所述时域脉冲发生器输出端与所述发射天线相连，用于产生时域脉冲、激励所述发射天线；所述时域脉冲信号的上升时间小于19.4ps；

所述时域脉冲接收机输入端与所述接收天线相连，用于接收时域信号，得到接收信号波形；

所述发射天线，用于向所述良导体板或吸波材料板发出电磁波；

所述接收天线，用于接收所述良导体板或吸波材料板反射的电磁波；

所述良导体板，用于反射电磁波；

所述良导体板面向所述发射天线和接收天线的一面，还用于铺设吸波材料，制成吸波材料板；

所述计算机，用于控制所述时域脉冲信号的收发，得到被测射频吸波材料或良导体金属板的反射信号，进而获得被测吸波材料反射率：

向被测吸波材料板发出电磁波，使用时间窗，从所述接收信号波形中选出被测吸波材料时域反射信号；

将所述吸波材料时域反射信号进行时频域处理，得到吸波材料频域反射波形；

向被测良导体板发出电磁波，使用时间窗，从所述接收信号波形中选出被测良导体板时域反射信号；

将所述良导体板时域反射信号进行时频域处理，得到良导体板频域反射波形；

用所述吸波材料频域反射波形和所述良导体板频域反射波形，计算被测吸波材料反射率；

所述时频域处理，是使用Kaiser窗对时间窗进行加权，再进行快速傅里叶变换得出所述吸波材料频域波形或良导体板频域波形；

所述发射电线和所述接收天线为线极化天线，分别在垂直极化和水平极化两种情形下进行测量。

2.如权利要求1所述吸波材料反射测量装置，其特征在于，

所述良导体板或吸波材料板，能够沿其自身法线方向前后平移。

3.一种吸波材料反射测量方法，其特征在于，包含以下步骤：

将发射天线和接收天线对称地放置于拱形架上，使接收天线口面法线和被测的吸波材料板的法线之间形成第一夹角，发射天线口面法线和被测的吸波材料板的法线之间形成第二夹角，第一夹角和第二夹角相等；

用时域脉冲发生器产生时域脉冲信号，所述时域脉冲信号的上升时间小于19.4ps；激励发射天线向被测吸波材料板发出电磁波，反射电磁波经由接收天线进入时域脉冲接收机，得到接收信号波形；

使用时间窗，从所述接收信号波形中选出被测吸波材料时域反射信号；

将所述吸波材料时域反射信号进行时频域处理，得到吸波材料频域反射波形；

用良导体板代替所述吸波材料板；

用时域脉冲发生器产生时域脉冲信号，激励发射天线向被测良导体板发出电磁波，反射电磁波经由接收天线进入时域脉冲接收机，得到接收信号波形；

使用时间窗，从所述接收信号波形中选出被测良导体板时域反射信号；

将所述良导体板时域反射信号进行时频域处理，得到良导体板频域反射波形；

用所述吸波材料频域反射波形和所述良导体板频域反射波形，计算被测吸波材料反射率；

所述时频域处理，是使用Kaiser窗对时间窗进行加权，再进行快速傅里叶变换得出所述吸波材料频域波形或良导体板频域波形；

所述发射电线和所述接收天线为线极化天线，分别在垂直极化和水平极化两种情形下进行测量。

4.如权利要求3所述吸波材料反射测量方法，其特征在于，还包含以下步骤：

改变所述发射天线和接收天线在所述拱形架上的位置，改变所述第一夹角和第二夹角，重复所述步骤。

5.如权利要求3所述吸波材料反射测量方法，其特征在于，

沿所述吸波材料板或所述良导体板法线方向前后移动所述吸波材料板或所述良导体板，重复所述步骤。